陈家俊
,
陶伯万
,
邓新武
,
刘兴钊
,
李德红
,
张鹰
,
何世明
,
李言荣
,
羊恺
,
张其劭
低温物理学报
doi:10.3969/j.issn.1000-3258.2003.z1.004
本文采用倒筒直流溅射方法(ICS)结合基片变速双轴旋转方式原位生长Φ3英寸双面YBCO高温超导外延薄膜.膜厚分布最大偏差小于10%,薄膜样品的中心与边缘部分的Tc0均达到90K,ΔTc≤0.3K,FWHM(005)≈0.2°,Rs(10GHz,77K)≈0.8mΩ,Jc值分布在2.2~3.1MA*cm-2之间,表明样品均匀性良好.
关键词:
高温超导薄膜
,
YBCO
,
均匀性
补世荣
,
羊恺
,
罗正祥
,
刘娟秀
,
宁俊松
,
张天良
,
张其劭
低温物理学报
doi:10.3969/j.issn.1000-3258.2005.z1.055
本文对高温超导微波谐振器的非线性特性做了测试,对测试结果进行了分析,并对该谐振器的构造方案做了分析,发展并实现了利用中等功率电平进行微波临界电流附近高温超导强非线性特性的测试方案.
关键词:
非线性
,
谐振器
,
测试
郭高凤
,
李恩
,
张其劭
,
李宏福
航空材料学报
doi:10.3969/j.issn.1005-5053.2003.z1.045
采用TE015模高Q圆柱腔对X波段低损耗介质材料的复介电常数进行了变温测试,电场的极化方向平行于样品表面.可测温度范围为常温到200℃.在所有温度点上,空腔的无载品质因数均大于40000.复介电常数的测试范围为εr:1.05~10,tanδ:3×10-2~5×10-5,测试系统的最可几误差为|Δεr / εr|=1.5% ,|Δtanδ|=10% tanδ+3.0×10-5.
关键词:
低损耗介质
,
复介电常数
,
变温
,
圆柱腔
,
微波测量
张映敏
,
罗正祥
,
羊恺
,
张其劭
,
黎涛
,
何健
低温物理学报
doi:10.3969/j.issn.1000-3258.2005.02.016
本文在目前国际上正在制订的高温超导薄膜微波表面电阻Rs标准测量方案的基础上,介绍了国内正在研制的测试方法和系统.该系统采用低损耗高介电常数的兰宝石构成工作在TE011δ谐振模式的介质谐振器,在原有研究基础上利用电磁场仿真,改变了输入和输出耦合方式,在77K时,利用它对单片高温超导薄膜Rs进行测试,提高了整个测试系统的品质因素,可成功地用于10×10mm2,10×15mm2和Φ51mm等多种规格样片的测试.整个测试系统体积小,操作方便,且所需实验条件简单,测试灵敏度高,重复性好,对高温超导薄膜无损伤.
关键词:
高温超导薄膜
,
微波表面电阻
,
介质谐振器
,
品质因数
补世荣
,
羊恺
,
罗正祥
,
张其劭
低温物理学报
doi:10.3969/j.issn.1000-3258.2005.03.017
本文讨论高温超导薄膜微波非线性器件的若干问题,包括材料建模,元件建模,器件参数建模,最后通过这些参数完成高温超导薄膜微波非线性器件综合等.试图通过非线性测试提取高温超导薄膜微波材料非线性模型,根据材料非线性模型建立非线性传输线模型,由非线性传输线模型建立各种微波无源元件模型,最后实现非线微波器件综合设计.
关键词:
高温超导
,
非线性
张映敏
,
罗正祥
,
羊恺
,
张其劭
低温物理学报
doi:10.3969/j.issn.1000-3258.2003.z2.051
介绍一种工作在12GHz附近的高温超导薄膜微波表面电阻Rs测试方法,该系统采用低损耗高介电常数的蓝宝石构成工作在TE011+δ谐振模式的介质谐振器,在77K时,利用它可成功地用于单片50.8mm较大超导薄膜的微波表面电阻Rs无损伤测试.并与工作在17GHz附近的用于测试10mm高温超导薄膜微波表面电阻测试方法进行了比较. 这种测试方法提高了整个测试系统的品质因素,体积小,操作方便,且所需实验条件简单,测试灵敏度高,具有简便、快捷、适合于工业化生产检测的特点.
关键词:
宁俊松
,
张其劭
,
罗正祥
,
羊恺
低温物理学报
doi:10.3969/j.issn.1000-3258.2006.02.019
与常规材料相比,高温超导薄膜(即HTSC)的表面电阻极低,在微波频段下,其微波表面电阻要比常规材料小两个数量级以上,并能实现高达10 6~ 10 7A/cm 2的电流密度.本项目选用10×15×0.44mm 3双抛LaAlO 3衬底上外延生长的钇系高温超导薄膜的YBa 2Cu 3O 7(YBCO),利用临界电流密度的特性,设计并制作了高温超导微波限幅器,其工作温度在 90K以下,77K时设计指标为: f :9.4~9.6GHz,插入损耗 L ≤0.4dB,门槛电平:10dBm,驻波比≤1.5.
关键词:
高温超导薄膜
,
临界电流密度
,
微波限幅器
雷丹
,
张其劭
,
李恩
宇航材料工艺
doi:10.3969/j.issn.1007-2330.2006.02.017
为了准确检测介质片在3 mm频段的复介电特性,采用固定腔长法,研制了工作在101.80 GHz的测试介质片复介电常数准光学谐振腔测试系统.结果表明:腔体的品质因数达8×104,高斯波束的束腰半径为2.36 mm.复介电常数的测试范围ε′为2~8;tanδ为3×10-4~5×10-3,最可几误差为|△ε′/ε′|小于等于10%;|△tanδ | 小于等于20%tanδ+1×10-4.此方法能检测大面积介质片复介电常数的均匀性.
关键词:
准光学谐振腔
,
介电常数
,
损耗角正切
,
品质因数
,
谐振频率