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MEMS用Si台面及SiO2/Si衬底上3C-SiC的LPCVD生长

孙国胜 , 王雷 , 巩全成 , 高欣 , 刘兴昉 , 曾一平 , 李晋闽

人工晶体学报 doi:10.3969/j.issn.1000-985X.2005.06.005

本文报道用在Si台面及热氧化SiO2衬底上3C-SiC薄膜的LPCVD生长,反应生长使用的气体为SiH4和C2H4,载气为H2,采用光学显微镜、X射线衍射(XRD)、X射线光电子能谱(XPS)、扫描电镜(SEM)、以及室温Hall测试对所生长的3C-SiC材料进行了测试与分析,结果表明在3C-SiC和SiO2之间没有明显的坑洞形成.

关键词: 3C-SiC , LPCVD生长 , Si台面 , SiO2/Si

基于中间硅片厚度可控的三层阳极键合技术

吴 , 巩全成 , 贾世星 , 王敏杰 , 张勇 , 朱健

功能材料与器件学报 doi:10.3969/j.issn.1007-4252.2008.02.021

三层键合Glass-Silicon-Glass(GSG)结构在光MEMS、微惯性器件、微流体芯片、射频MEMS以及低成本圆片级封装技术领域里是一项重要技术.基于MEMS精密研磨抛光工艺和阳极键合,结合新型玻璃通孔的腐蚀工艺,开展了中间硅片厚度可控的三层阳极键合工艺研究,成功制备了带有通孔的GSG微流体器件.总厚度1360μm,中间硅片厚度60μm,通孔直径100μm,孔间距(圆孔的中心距离)200μm,孔内边缘圆滑无侧蚀.三层结构的键合几率为90%,为探索多层键合技术打下坚实基础.

关键词: GSG键合 , 研磨抛光工艺 , 微流体器件

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