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离子束外延制备GaAs:Gd薄膜

宋书林 , 陈诺夫 , 周剑平 , 尹志岗 , 李艳丽 , 杨少延 , 刘志凯

功能材料

室温条件下,用低能离子束外延制备了GaAs:Gd薄膜,X射线衍射(XRD)结果表明除了GaAs衬底峰没有发现其它新相的衍射峰,并借助于高分辨X射线衍射(HR-XRD)进一步分析了晶格常数的变化特点.俄歇电子能谱(AES)分析了样品表面的成分,及元素随深度的分布规律,在60nm深处元素的相对含量发生明显改变,运用原子力显微镜(AFM)揭示了样品表面的形貌特点.

关键词: GaAs:Gd薄膜 , 低能离子束外延 , GaAs衬底

离子注入制备GaAs:Mn薄膜的性质研究

宋书林 , 陈诺夫 , 尹志岗 , 柴春林 , 杨少延 , 刘志凯

功能材料

采用高能离子注入的方式,在半绝缘性的GaAs衬底中掺杂引入Mn离子制备了磁性半导体.借助于X-射线衍射仪(XRD)进行了结构分析,没有发现新的衍射峰,并运用高分辨率X射线衍射仪(HR-XRD)分析了Mn离子注入后衬底(004)峰的微小变化.根据原子力显微镜的结果发现,注入后的样品表面没有发生明显的变化.通过使用超导量子干涉仪SQUID进行变温分析,在所分析范围内M-T曲线存在拐点,但其所对应的铁磁性转变温度低于室温.

关键词: 半绝缘性砷化镓 , 磁性半导体 , 铁磁性转变温度

室温铁磁性GaN:Cr薄膜的性质研究

刘志凯 , 宋书林 , 陈诺夫 , 尹志岗 , 柴春林 , 杨少延

功能材料

采用高能离子注入的方式,在GaN衬底中掺杂引入Cr离子制备了磁性半导体.借助于X射线衍射仪(XRD)进行了注入前后结构的对比分析,没有发现新的衍射峰,并运用高分辨率X射线衍射仪(HR-XRD)分析了Mn离子注入后衬底(0002)峰的微小变化.根据原子力显微镜的结果,发现注入后的样品表面起伏比较大,发生明显的变化.通过使用超导量子干涉仪SQUID进行变温分析,在所分析的10~300K范围内,磁化强度变化幅度较小,样品在室温条件下仍然保持铁磁性.

关键词: 氮化镓 , 磁性半导体 , 铁磁性转变温度

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