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安正植 , 王文宇 , 贾文学
材料研究学报
用富里叶分析方法分析了交变加载、单向加载和冲击的断口。实硷结果表明,在断口表面,交变加载的微观畸变比单向加载的大,交变加载的晶块也比单向加载的大,但交变加载断口的位错密度比单向加载的小.讨论了不同类型断口产生不同状态的原因。
关键词: X 射线断口分析 , Fourier series analysis , residual stress , null
