周瑜
,
李军
,
张仲秋
,
吴童生
,
李志玮
绝缘材料
doi:10.3969/j.issn.1009-9239.2009.06.015
针对电力系统绝缘子污秽闪络产生的危害问题,采用升压法对涂污秽物的单片瓷绝缘子(XP-210)进行人工污秽试验,分析了不同盐密(NaCl)、灰密(硅藻土)对单片瓷绝缘子闪络电压的影响.结果表明:盐密、灰密对单片瓷绝缘子人工污秽闪络电压都有影响,闪络电压与盐密、灰密均成幂函数关系,并且二者对闪络电压的影响是独立的.据此提出了划分电网污秽等级的建议.
关键词:
瓷绝缘子
,
盐密
,
灰密
,
人工污秽试验
,
污秽闪络
