王家君
,
张德林
,
朱清玮
,
王世荣
,
吴燕婕
,
熊柏青
,
崔舜
,
林晨光
稀有金属
doi:10.3969/j.issn.0258-7076.2006.06.027
利用显微光谱、 X荧光光谱、光电子能谱、色泽分析和场发射电子扫描显微分析,对凹印用铜金粉的表面理化性能进行了研究,结果表明,国产铜金粉的表面锌含量明显偏低,Cu(1)与Cu(0)的比例与进口铜金粉之间也存在差异;从而导致其反射光谱、表面理化性质方面与进口铜金粉存在显著差别,宏观上表现为国产和进口铜金粉的色泽存在差异,揭示了国产铜金粉与进口铜金粉品质差距的主要原因.
关键词:
铜金粉
,
色泽
,
反射光谱
,
表面理化性质
