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吴桂彬
冶金分析 doi:10.3969/j.issn.1000-7571.2004.06.010
介绍了用X射线荧光光谱仪测定生石灰中Ca,Mg,Si和S含量的方法.通过条件试验,确定了各元素的最佳测定条件,同时探讨了研磨样品时间对X射线荧光强度和分析曲线的影响、放置时间对样品含量的影响.实践证明,该方法快捷、简便、准确.RSD在0.017%~0.93%之间.
关键词: X射线荧光光谱法 , 生石灰 , 压片法