吴云智
,
魏庆农
,
汪世美
,
冯巍巍
量子电子学报
doi:10.3969/j.issn.1007-5461.2007.06.011
测量系统采用双旋转延迟器结构,通过两个1/4波片的周期变化,对入射光、散射光的偏振态进行调制.由探测光强的25个Fourier分解系数可以计算得到样品的Mueller矩阵.为了检测测量系统的准确性,将测量的16个自由空间Mueller矩阵分量和理想情况下的自由空间Mueller矩阵分量进行比较,并给出了每个矩阵分量的标准误差.最后,通过测量聚四氟乙烯样品板的Mueller矩阵,定量地分析样品的退偏效应.
关键词:
光学偏振
,
Mueller矩阵
,
Fourier分解
,
聚四氟乙烯
