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高斯脉冲串在光纤中运行时的热折射噪声分析

万珍珠 , 吴世臣 , 刘中柱

量子电子学报 doi:10.3969/j.issn.1007-5461.2007.03.020

当高斯脉冲串在光纤中运行时,脉冲功率耗散使光纤温度上升,引起光纤折射率变化,结果产生热折射噪声.在利用光孤子存储环探测引力红移时,热折射噪声会影响光孤子的运行时间,这种影响可以由研究高斯脉冲串给出.在光纤一维热传导方程的基础上,计算出了光纤温度涨落的上限,并确定了脉冲串总运行时间的上限跟脉冲串比特率的关系.通过该关系,人们可以根据运行时间的变化和测量装置灵敏度的要求来选择合适的脉冲串的比特率,从而对设计使用光孤子存储环之类的脉冲串的装置提供帮助,为光孤子存储环探测引力红移提供参考依据.

关键词: 非线性光纤光学 , 热折射噪声 , 脉冲耗散 , 高斯脉冲

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