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碲基复合薄膜在纳米尺度下的电学特性研究

甘平 , 辜敏 , 卿胜兰 , 鲜晓东

功能材料

分别采用AFM和原子力/扫描探针显微镜(AFM/SPM)在纳米尺度下对碲基复合(Te/TeO2-SiO2)薄膜的表面电势、电容梯度等电学特性进行测量。测试结果表明控制电压为-0.8V,反应时间为200s条件下制备的碲基复合薄膜的表面电势差达到700mV,相对介电常数小于以硅为主要成分的衬底相对介电常数。利用光谱分析,碲基复合薄膜的禁带宽度约为3.14eV。

关键词: 碲基复合薄膜 , 原子力/扫描探针显微镜 , 表面电势 , 电容梯度

高三阶光学非线性Cd/CdS-SiO2复合薄膜的电化学-溶胶凝胶制备及表征

卿胜兰 , 甘平

无机材料学报 doi:10.3724/SP.J.1077.2013.12483

以硝酸镉、硫脲和正硅酸乙酯为前驱体,采用电化学-溶胶凝胶法,以ITO玻璃为基底制备了透明薄膜.扫描电子显微镜(SEM)表征表明薄膜为纳米束结构.X射线能谱(EDX)表征表明薄膜由Si、O、Cd、S元素组成,Cd/S(原子比)>1.EDX表征结合循环伏安(CV)实验确定薄膜为Cd/CdS-SiO2复合薄膜.Z扫描表征表明,薄膜在1064 nm处表现出自散焦特性的非线性折射效应和饱和吸收特性的非线性吸收特性.薄膜的三阶非线性极化率(x(3))较高,达到了1.18×10-14~1.39×10-13 (m/V)2,表明薄膜具有优良的三阶光学非线性.分析认为薄膜中CdS的含量对薄膜的光学性非线性起主要作用.

关键词: 三阶光学非线性 , Cd/CdS-SiO2复合薄膜 , 电化学-溶胶凝胶 , Z扫描

氧化碲非线性光学材料的研究进展

卿胜兰 , 辜敏 , 鲜晓红

材料导报

综述了氧化碲非线性光学材料(包括纯TeO_2材料和掺杂有其它物质的氧化碲基材料)的制备方法、国内外研究进展,探讨了分子结构对氧化碲基材料非线性光学性的影响,分析了采用高温熔融法和溶胶-凝胶法制备氧化碲非线性光学材料的优缺点,展望了氧化碲材料的应用前景.指出高温熔融法或溶胶-凝胶法与其他制备方法,如超声、光聚合、电化学等相结合是制备优异氧化碲非线性光学材料的有效手段.

关键词: 氧化碲材料 , 非线性光学性 , 结构 , 制备

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