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Y2O3和Gd2O3掺杂对硼硅酸盐玻璃耐海水性能的影响

刘芬 , 柳召刚 , 王觅堂 , 李梅 , 胡艳宏 , 张晓伟 , 杨佳 , 方龙

材料科学与工程学报 doi:10.14136/j.cnki.issn 1673-2812.2016.03.024

本文通过高温熔融法制备了Y2O3和Gd2O3掺杂的硼硅酸盐玻璃,借助SEM、ICP-AES、XRD和pH计等分析手段,探究了稀土掺杂对该玻璃耐蚀性能的影响及其在海水中的腐蚀机理.结果表明:单独掺杂不同量的稀土氧化物对玻璃耐海水性能的影响不同,理想的单独掺杂量分别为1.00mol%的Y2O3(ZBY4)和0.25mol%的Gd2O3(ZBG1);混合掺杂的试样在耐海水性能上均得到提高,其中最佳掺杂量为0.5mol% Y2O3+0.5mol%Gd2O3;基础试样腐蚀后表面析出Mg4 Al2 (OH)12(CO3)·3H2O晶体,ZBY4、ZBG1试样及所有混合掺杂试样表面均没有晶体产生.此外,玻璃在海水中的腐蚀与玻璃在去离子水中的腐蚀过程存在较大差别.

关键词: 稀土 , 硼硅酸盐玻璃 , 耐海水性能

电子型超导体Pr1.85Ce0.15CuO4-δ中Cu位V替代对超导电性的影响

刘芬 , 曹世勋 , 黎文峰 , 李领伟 , 池长昀 , 敬超 , 张金仓

低温物理学报 doi:10.3969/j.issn.1000-3258.2005.z1.010

本文研究了Pr1.85Ce0.15CuO4-δ(PCCO)中V4+离子替代Cu2+离子后对其超导电性的影响.Pr1.85Ce0.15Cu1-xVxO4-δ(x=0~0.10)电阻率测量结果显示:微量(x≤0.04)V4+离子替代Cu2+离子可以改善样品的超导电性;随着替代量的增加,体系的超导电性逐渐被抑制,x=0.08时超导电性消失.我们主要从样品的微观结构和载流子浓度两个方面的变化分析了V4+替代Cu2+对PCCO超导电性的影响机制.霍尔系数实验结果表明,替代量较少时,体系中载流子浓度随着x的增加而增加,有助于超导电性的改善,但是当替代量增加到一定程度时,晶格畸变程度的增大和顶点氧的出现,抑制了超导电性.

关键词: 电子型高温超导体 , 超导电性 , 微观结构 , 载流子浓度

氧掺杂Y0.8Ca0.2Ba2 Cu3 Oy超导体正交-四方相变的正电子湮没实验研究

李领伟 , 曹世勋 , 黎文峰 , 刘芬 , 池长昀 , 敬超 , 张金仓

功能材料

利用正电子湮没技术以及X射线衍射等实验手段对Y0.8Ca0.2Ba2Cu3Oy(y=6.32~6.84)体系进行了系统研究.结果表明,在氧含量y=(6.50±0.05)附近发生正交-四方相变.正电子寿命参数在正交-四方相变发生前后均有明显变化,说明样品内部微观电子结构在发生正交-四方相变附近区域发生了显著变化.表征样品内部电子结构整体平均效应的体寿命参数τb随y的降低而逐渐增大,表明由于氧含量降低导致了样品内部局域电子密度的降低,这和Tc随y降低而降低是一致的.认为该体系在y约为6.50附近正交-四方相变区域Tc出现平台式响应可能与相变过程中区域体系内部电子结构变化上的某种弛豫效应存在某种关联.且讨论了YBCO体系中正电子湮没机制以及它与正交-四方相变与和高温超导电性之间的关联.

关键词: 正电子湮没 , 正交-四方相变 , 高温超导电性

测汞仪器漂移的校正

刘芬 , 刘文华

冶金分析 doi:10.3969/j.issn.1000-7571.2003.05.006

常用的汞分析方法有冷原子吸收分光光度法、原子荧光光谱法、双硫腙分光光度法等,在已颁布的汞标准分析方法中都采用标准曲线法.然而,通过对汞质控标样的分析及多年环境监测结果的数理统计,发现用标准曲线的回归系数来计算样品中汞的测定结果,使低含量样品中汞浓度偏高,高含量样品中汞浓度偏低,若用相应吸收值的标准溶液浓度来计算样品中汞浓度,测定结果更准确.

关键词: 标准曲线系数 , 吸收值 , 汞浓度 , 相对误差

射频溅射MoS_2、WS固体润滑膜在脂润滑下的摩擦学特性

罗虹 , 刘家浚 , 朱宝亮 , 刘芬

材料研究学报

用球-盘试验机研究了射频溅射MoS2,WS2固体润滑膜在脂润滑下的摩擦学特性,并用XPS,SEM和EDX等方法进行了分析.结果指出,在锂基脂润滑下,表面溅射MOS2薄膜后摩擦系数降低,擦伤载荷成几倍或几十倍增长,尤其在高滑动速度下效果更加明显,可在一定载荷范围内代替2#主轴油进行润滑,摩擦中MOS2膜表层组织很容易剥落,摩擦中与基体结合较牢的主要是表面下的有效膜厚。因而在本试验条件下两种厚度MOS2膜的摩擦学性能基本无差别,溅射WS2膜中含氧量很高,且在整个膜层中均以WO3存在,因此减摩效果不理想。

关键词: MoS_2膜 , WS_2 film , R.F.sputtered , grease , coefficient of friction

工艺条件对注射成型PP/POE共混制品结晶度的影响

曾盛渠 , 黄志高 , 周华民 , 刘芬 , 邓林

高分子材料科学与工程

以矩形聚丙烯(PP)/乙烯-辛烯共聚物(POE)共混制品为例,研究了注射成型工艺参数对结晶度的影响规律。通过扫描电子显微镜(SEM)得到POE分散相含量,结合差示扫描量热仪(DSC)获得PP基体的绝对结晶度。实验结果表明,通常表层的结晶度最低,例外的是在最高注射速率条件下,表层内0.2 mm处结晶度最小;随保压压力增大结晶度减小;高的熔体温度会使剪切形成的晶核前驱(precursor)被重新融化,取向松弛,弱化充填中剪切诱导作用,造成结晶度减小;高的注射速率提高了充填结束后型腔内熔体温度,对结晶度的影响类似提高熔体温度;在低熔体温度和低注射速率条件下成型可获得高的结晶度。

关键词: 聚丙烯/乙烯-辛烯共聚物共}昆 , 差示扫描量热 , 注射成型 , 工艺参数 , 结晶度

Fe-Ni合金薄膜组成准确测量的XPS研究

王海 , 程斌 , 宋小平 , 刘芬

稀有金属 doi:10.3969/j.issn.0258-7076.2010.03.021

利用X射线光电子能谱(XPS)技术进行了Fe-Ni合金薄膜组成的准确测量研究,考察了3种不同来源的相对灵敏度因子对同一测试样品测量结果的影响.试验结果表明:通过纯Fe和纯Ni薄膜测得、仪器软件自带、Fe-Ni合金薄膜标准物质测得的相对灵敏度因子计算得到的Fe-Ni合金薄膜组成(Fe的摩尔分数)分别为43.23%,47.39%和49.91%.通过Fe-Ni合金薄膜标准物质(与测试样品具有相似组成)测得的相对灵敏度因子来计算测试样品的元素组成时,可以获得更加准确、有效的测量结果(Fe的摩尔分数为49.91%),这与国际关键比对CCQMK67参考值(50.02%)相一致;测量结果不确定度优于3%.此外,通过氩离子刻蚀技术能够很好地去除样品表面含碳污染物和金属氧化物.

关键词: X射线光电子能谱 , Fe-Ni合金薄膜 , 准确测量

模拟酸雨条件下C50混凝土力学性能变化的研究

胡晓波 , 龙亭 , 陶新明 , 侯晓燕 , 刘芬 , 肖柏军

腐蚀学报(英文) doi:10.3969/j.issn.1002-6495.2009.04.009

研究了在模拟酸雨侵蚀作用下,C50混凝土和掺矿渣、粉煤灰及SBR聚合物C50混凝土的力学性能变化.结果表明:在相当于75年酸阿侵蚀烈度的模拟条件下,五种配合比的C50混凝土的主要力学性能无明显劣化,仍可以达到混凝土结构设计对其力学性能的要求;矿渣、SBR聚合物和粉煤灰可以不同程度的提高混凝土后期力学性能,或降低酸雨对混凝土侵蚀程度和速率;酸雨侵蚀下混凝土表面溶蚀是主要问题,存在使对表面状态敏感的抗折、抗拉强度等力学性能下降的可能性;并从结构安全度角度考虑酸雨侵蚀对混凝土的影响.

关键词: 混凝土 , 模拟酸雨 , 腐蚀 , 力学性能 , 安全系数

液晶显示全局动态调光算法的高效实现方法研究

刘芬 , 张磊 , 韩东 , 吕国强

液晶与显示 doi:10.3788/YJYXS20142901.0028

动态调光算法包括背光值和液晶像素补偿量确定.通过查表法实现的基于图像分类的S曲线调光算法电路存在资源消耗大、处理速度慢等缺陷.本文提出了2种算法实现方式:等差数列法、最小二乘拟合法,并分别对这2种算法进行了仿真分析,得到其与查找法的最大标准差分别为1.8和0.8.在开发的全局调光液晶电视样机上进行了实际测试,和查表法得到的像素亮度相比:等差数列法的误差为3个灰度级,最小二乘法的误差在1个灰度级以内.2种算法都可使电路存储资源的利用率由原查表法的71%降低到4%.仿真和实验结果表明最小二乘法具有更好的效果.

关键词: 动态调光 , S曲线 , 像素补偿 , 实现方法

一种高节能、低溢出率的动态调光算法

刘芬 , 吕国强 , 冯奇斌 , 张喜条

液晶与显示 doi:10.3788/YJYXS20142906.1083

为了解决现有调光算法存在节能率低和溢出失真率高的问题,本文提出了一种高节能、低溢出率的动态调光算法.在综合考虑液晶显示器中背光亮度和像素亮度对最终显示效果存在非等效影响的实际情况下,将输入图像灰阶亮度作一定的预处理后再进行图像背光亮度计算,并且采用带有权重的线性调节方式来进行液晶像素的补偿计算.与常见调光算法的平均节能11.9%和平均溢出率12.34%相比,本文算法的平均节能可达22.15%,而溢出失真率降低至9.95%.在工程样机上对50幅图像进行了实际测试,与采用常见调光算法的显示器相比,采用本文调光算法的显示器在获得更高节能率的同时,保持了较好的显示质量,没有明显的亮度下降.

关键词: 调光技术 , 背光 , 节能率 , 溢出率

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