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La2/3Ca1/3MnO3:Agx多晶靶材的制备及其电输运性质

曹明刚 , 刘翔 , 张辉 , 尚杰 , 段云彪 , 兰军 , 张少春 , 张鹏翔

材料科学与工程学报

采用固相反应法制备了不同Ag掺杂量的La2/3Ca1/3MnO3(LCMO)∶Agx(x为摩尔百分比,x=0.00、0.01、0.05、0.10、0.20、0.30、0.40)多晶靶材,XRD图谱显示所制备样品均为纯相的赝立方钙钛矿结构,并且随着Ag掺杂量的增加,a轴和b轴在0≤x≤0.40范围内有微小的涨落;另外RT曲线显示,0≤x≤0.05时,金属-绝缘转变温度(Tp)开始升高很快,0.05<x≤0.40时逐渐变缓,最大值为192K,这比化学共沉淀法制备的多晶靶材(273K)低约80K,分析其原因可能是粉体粒度的不同所致.

关键词: LCMO:Agx , 固相法 , 多晶靶材 , 金属-绝缘转变温度

钢铁分析中时间分辨光谱研究

沈克 , 李小杰 , 郭芳 , 刘翔 , 周德云 , 蔡迎新 , 商明惠 , 夏念平

冶金分析 doi:10.3969/j.issn.1000-7571.2004.z1.009

利用时间分辨法研究了元素火花脉冲采样窗口与分析下限的关系.应用TRS技术可降低诸如Al,Pb等元素的检出限;Cu的自吸效应减弱;Sb的校准曲线相关性改善.

关键词: 钢铁 , 光谱分析 , 时间分辨

应用低介电材料丙烯酸酯树脂作为TFT-LCD的钝化层材料

周伟峰 , 薛建设 , 明星 , 刘翔 , 郭建 , 谢振宇 , 赵承潭 , 陈旭 , 闵泰烨

液晶与显示 doi:10.3788/YJYXS20112601.0019

将具有低介电常数的丙烯酸酯树脂作为薄膜晶体管液晶显示器的钝化层整合到阵列基板中.与传统的SiN<,x>薄膜(ε≈7)相比,丙烯酸酯树脂钝化层具有平坦的表面,其低介电常数(ε≈4.5)可以降低器件的RC延迟,这都将有利于提高薄膜晶体管液晶显示器的开口率,从而提高显示器的亮度,降低能耗和制作成本.

关键词: 薄膜晶体管液晶显示器 , 低介电常数 , 丙烯酸酯树脂 , 钝化层

不同狭缝与遮挡条设计对TFT特性的影响与规律

周伟峰 , 薛建设 , 金基用 , 刘翔 , 明星 , 郭建 , 陈旭 , 闵泰烨

液晶与显示 doi:10.3788/YJYXS20112602.0165

通过对掩膜版上不同狭缝与遮挡条设计与TFT沟道形貌、电学特性相互关系的分析,发现随着狭缝与遮挡尺寸的减小,TFT的电学特性、沟道处光刻胶起伏与最终关键尺寸偏移量都会改善.狭缝的尺寸比遮挡条的尺寸对TFT特性的影响更加显著.考虑到沟道转角处的短路几率问题,小的狭缝与遮挡条尺寸设计更加适合于四次掩膜光刻工艺,转角处的缺陷可以通过调整遮挡条的尺寸来避免.

关键词: 薄膜晶体管液晶显示器 , 沟道设计 , 四次掩膜曝光

钎焊温度对Cu基非晶钎料钎焊W/CuCrZr合金接头的性能影响

于皓 , 王建豹 , 王英敏 , 羌建兵 , 董闯 , 练友运 , 封范 , 刘翔 , 孙继忠

稀有金属材料与工程

钎焊温度是影响ITER装置中W/CuCrZr合金接头性能的重要因素.采用甩带技术制备了成分为Cu47Ti33Zr11Ni8Si1(at%)的宽10 mm、厚80 μm的均匀连续非晶合金箔带,将其作为新钎料应用于W/CuCrZr合金的钎焊连接中;运用光学显微镜、扫描电镜、X射线衍射仪和显微硬度计测试了不同钎焊温度下W/CuCrZr合金钎焊接头的组织形貌、物相组成与显微硬度,揭示了钎焊温度对相关钎焊接头性能的影响.结果表明:钎焊温度为900℃时,获得的钎焊接头界面接合良好、对母材影响小且钎缝具有较高的硬度.

关键词: Cu47Ti33Zr11Ni8Si1非晶钎料 , 钎焊温度 , W/CuCrZr钎焊接头

静电力驱动的液滴数字传输芯片

皋华敏 , 李铁 , 许磊 , 刘翔 , 王翊 , 周萍 , 王跃林

功能材料与器件学报 doi:10.3969/j.issn.1007-4252.2010.02.008

设计制作了一种基于静电力驱动的数字微流芯片.通过优化芯片的结构,采用硅为衬底,TiW/Au为微电极阵列,较薄的氮化硅和碳氟聚合物为介质层和疏水膜层,驱动电压大为降低.目前已成功实现了在30V的驱动电压下,对去离子水液滴的两维驱动,液滴移动速度可达96mm/s,同时也实现了对0.9%质量浓度NaCl溶液液滴的驱动.分析结果验证了液滴是在静电力的作用下实现移动.

关键词: 数字微流芯片 , 静电力 , 液滴

X65钢焊接接头在模拟浅表海水和深海环境中的腐蚀行为对比

刘智勇 , 万红霞 , 李禅 , 杜翠薇 , 李晓刚 , 刘翔

中国腐蚀与防护学报 doi:10.11902/1005.4537.2013.156

在实验室模拟条件下,采用失重法及电化学等方法并结合腐蚀形貌显微观察,研究了X65钢焊接接头在浅表海水和深海(1000 m)环境中的短期腐蚀行为及其机理.结果表明,X65钢焊接接头在浅表海水环境下的腐蚀速率大于深海环境下的腐蚀速率,浅表海水环境以点蚀为主,深海环境只在熔合线附近腐蚀相对较快,焊缝区腐蚀不明显;在模拟浅表海水和深海环境下,热影响区(HAZ)的腐蚀电位均低于焊缝和母材区,导致焊缝区域存在电偶效应,加速了HAZ的腐蚀,形成较厚的腐蚀产物膜.

关键词: 管线钢 , 焊接接头 , 海水腐蚀

高强度管线钢微观组织对氢致裂纹的影响

陈健 , 汪兵 , 胡亮 , 刘清友 , 刘翔

钢铁 doi:10.13228/j.boyuan.issn0449-749x.20140442

通过扫描电镜(SEM)和电子背散射衍射(EBSD)等方法,从组织结构和晶界2个方面,研究了微观组织对高强度管线钢氢致裂纹(HIC)的影响。结果表明:高强度管线钢组织结构中存在数量较多的、大块状的M/A岛时,会显著增加HIC的敏感性,而增加AF组织数量及其均匀性有利于降低HIC的敏感性;高强度管线钢的HIC裂纹沿着大角度晶界的边界扩展,而小角度晶界具有一定的止裂作用。

关键词: 高强度管线钢 , 氢致开裂(HIC) , M/A , 硫化氢

偏析对X65管线钢抗氢致裂纹性能的影响

陈健 , 汪兵 , 胡亮 , 刘清友 , 刘翔

材料热处理学报

通过LIBS-OPA-100原位分析仪、扫描电镜(SEM)、透射电子显微镜(TEM)等方法,从显微组织、硬度、偏析元素3方面研究了X65管线钢中心偏析带马奥岛(M/A)组元对氢致裂纹性能的影响,偏析与硬度以及偏析与氢致裂纹(HIC)之间的关系.结果表明:X65管线钢中C、Mn、S、Si元素在中心偏析后形成硬度较高的带状组织是导致抗HIC性能不合格的主要原因;显著的中心偏析马奥岛、铁素体带状组织和大尺寸的相颗粒析出不利于抗HIC性能;带状的马奥岛组织是氢原子的聚集场所,是导致氢致裂纹萌生与扩展的源头.

关键词: X65管线钢 , 偏析 , 硬度 , 氢致裂纹(HIC) , 硫化氢(H2S)

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