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利用原子力显微镜研究KTiOAsO4晶体的铁电畴

牟其善 , 张杰 , 刘希玲 , 胡秀琴 , 李可 , 彭祖建 , 官文栎 , 程传福 , 路庆明 , 马长勤 , 王绪宁

人工晶体学报 doi:10.3969/j.issn.1000-985X.2001.03.015

利用原子力显微镜研究了KTiOAsO4 晶体的铁电畴,发现了这一实验方法的诸多特点,如放大倍数高,可以得到晶体表面的定量信息等,得到了KTiOAsO4晶体铁电畴的原子力显微镜照片,并结合化学腐蚀光学显微法的实验结果进行了研究.最后对铁电畴的机制与消除进行了理论讨论.

关键词: KTiOAsO4晶体 , 铁电畴 , 原子力显微镜

KTiOAsO4晶体的铁电畴与位错的多种实验方法研究

牟其善 , 刘希玲 , 李可 , 官文栎 , 程传福 , 马长勤 , 王绪宁 , 路庆明

人工晶体学报 doi:10.3969/j.issn.1000-985X.2000.04.012

利用原子力显微镜,同步辐射X射线形貌术和化学腐蚀光学显微等方法深入研究了KTiOAsO4晶体缺陷中的铁电畴和位错.首次用原子力显微镜给出了用两种腐蚀剂腐蚀过的KTA晶体表面的铁电畴和位错蚀坑的照片及定量信息,如发现铁电畴的明区要高于暗区,且两者的粗糙度明显不同.这为研究各种晶体的生长缺陷开辟了一条新的途径.

关键词: KTiOAsO4晶体 , 原子力显微镜 , 同步辐射X射线形貌像 , 铁电畴 , 位错

LiNdP4O12晶体的生长缺陷

刘希玲 , 牟其善 , 彭祖建 , 张杰 , 马长勤 , 路庆明 , 王绪宁 , 田玉莲

人工晶体学报 doi:10.3969/j.issn.1000-985X.2000.04.011

LiNdP4O12(LNP)晶体是一种新型的激光材料.本文报道了用同步辐射X射线白光形貌术和光学显微法研究由助熔剂籽晶旋转法生长的LNP晶体的生长缺陷,观察到了圆形生长台阶及精细的系列台阶结构,对晶体中的包裹物和位错缺陷等进行了详细的观察描述,还发现了一种比较奇特的腐蚀沟槽,分析了这种腐蚀沟槽的形成机理及各种缺陷的成因和克服办法.

关键词: LNP晶体 , 同步辐射X射线白光形貌术 , 助熔剂籽晶旋转法缺陷 , 包裹物 , 位错

Bi4Ti3O12铁电薄膜X射线光电子能谱研究

张寅 , 王弘 , 尚淑霞 , 王少伟 , 王民 , 齐尚奎 , 刘希玲

人工晶体学报 doi:10.3969/j.issn.1000-985X.2000.02.015

本文采用化学溶液沉积(CSD)工艺在Si(100)衬底上制备了Bi4Ti3O12铁电薄膜,这种薄膜的X射线衍射(XRD)结果显示其具有较好的结晶性.运用X射线光电能谱仪(XPS)对薄膜的结构进行了研究,分析结果表明,衬底中Si向镀在其上的Bi4Ti3O12膜层内扩散,影响扩散的主要因素是膜厚及退火温度.

关键词: 铁电薄膜 , 化学溶液沉积法 , X射线光电子能谱 , Si扩散

Cr:KTiOPO4晶体缺陷的研究

胡秀琴 , 官文栎 , 牟其善 , 刘希玲 , 马长勤 , 王绪宁

人工晶体学报 doi:10.3969/j.issn.1000-985X.2000.01.015

首次报道了利用光学显微法和同步辐射白光X射线形貌术对Cr:KTP晶体缺陷的研究结果.光学显微法采用热磷酸作为腐蚀剂,用Opton大型显微镜反射法观察,观测到(100)面和(021)面的位错蚀坑以及(021)面的小角度晶界.用同步辐射白光X射线形貌术作出(001)面、(010)面和(100)面形貌图,从图中可明显观察到生长层、扇形界及位错线.由此得出,Cr:KTP晶体的主要缺陷是位错、生长扇形界、生长层等.

关键词: Cr:KTP晶体 , 同步辐射白光X射线形貌术 , 缺陷 , 非线性光学晶体

KTiOAsO4晶体的生长缺陷研究

牟其善 , 刘希玲 , 马长勤 , 王绪宁 , 路庆明

无机材料学报

研究KTiOAsO4晶体的生长缺陷,对于改善它的性能和应用前景,有很大的意义.本文利用化学腐蚀光学显微术和同步辐射X射线形貌术研究了KTiOAsO晶体的缺陷,实验结果表明,两种腐蚀剂对于显示KTA晶体的表面缺陷效果显著,KTA晶体中主要的缺陷有铁电畴、生长层、扇形界、位错和包裹物.讨论了这些缺陷形成的原因。

关键词: KTiOAsO4晶体 , synchrotron radiation topography , defect , ferroelectric domain

KTiOAsO4晶体的生长缺陷研究

牟其善 , 刘希玲 , 马长勤 , 王绪宁 , 路庆明

无机材料学报 doi:10.3321/j.issn:1000-324X.2000.04.002

研究KTiOAsO4晶体的生长缺陷, 对于改善它的性能和应用前景, 有很大的意义. 本文利用化学腐蚀光学显微术和同步辐射X射线形貌术研究了KTiOAsO4晶体的缺陷, 实验结果表明, 两种腐蚀剂对于显示KTA晶体的表面缺陷效果显著, KTA晶体中主要的缺陷有铁电畴、生长层、扇形界、位错和包裹物. 讨论了这些缺陷形成的原因.

关键词: KTiOAsO4晶体 , 同步辐射X射线形貌术 , 缺陷 , 铁电畴

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