韩君奇
,
刘利萍
,
张南红
,
汤展峰
,
杨宗顺
,
张旋
,
张志华
,
李静
液晶与显示
doi:10.3788/YJYXS20173203.0177
Panel污渍是TFT-LCD生产中一种常见的不良,它直接影响到产品的画面品质和出售价格,降低产品竞争力.本文通过研究发现大量panel污渍是摩擦产生的含Si元素杂质导致.实验表明:降低制品膜面的粗糙度,使杂质更易去除;通过提升摩擦后的清洗能力,也能有效去除杂质,一定程度降低了panel污渍发生率;而最后通过导入C系列摩擦布,使摩擦过程中产生极少杂质.通过导入以上3种改善措施,最终将55UHD产品的panel污渍发生率从8.2%降至0.2%.
关键词:
面板
,
panel污渍
,
清洗
,
摩擦布
,
杂质
刘利萍
,
吴涛
,
刘俊豪
,
叶超前
,
陆相晚
,
崔完鎔
液晶与显示
doi:10.3788/YJYXS20142905.0697
通过对大量Zara样品进行分析,构建了不良现象——对应原因(Phenomenon Cause)的4种理论模式,并基于此理论设计了改善Zara的实验.通过分析发现:约5μm左右可移动的Zara主要为摩擦工艺过程产生的碎屑;10～25 μm按压不动的Zara主要为取向膜涂覆过程中的颗粒引起;轮廓清晰尺寸较大的Zara主要来自环境颗粒;无清晰轮廓且体积较大的Zara主要为摩擦取向失效形成的岛状漏光.为降低Zara不良进行实验,结果显示:增加取向膜在基板上的覆盖率以及变更彩膜涂层材料可有效降低Zara不良的发生率;此外,减小柱状隔垫物的坡度角度能够从源头上有效防止Zara的产生.Zara不良的研究与改善提升了小尺寸FFS产品的良率5％以上,为企业的稳定高效生产奠定了基础.
关键词:
TFT-LCD
,
小尺寸
,
Zara
,
分类
范恒亮
,
汤展峰
,
刘利萍
,
李静
,
黄静
,
刘岩龙
液晶与显示
doi:10.3788/YJYXS20163103.0270
影像残留是TFT-LCD,特别是TN型产品常见的不良,对产品良率影响很大.本文从产品设计、工艺参数、工艺管控3个方面对残影进行分析.发现产品设计时Data线两侧段差过大,是导致残影发生的主要原因,通过增加配向膜厚度和摩擦强度值可以有效降低残影,实验得出配向膜膜厚高于110 nm,摩擦强度高于5.5N,m时无残影发生.通过控制配向膜工程与摩擦工程间的延迟时间在5h,摩擦工程与对盒工程间的延迟时间在10 h,并且严格管控ITO偏移量可以有效减少Panel内部电场,从而降低残影.通过以上措施,对于15.6HD产品,良率提升了10％,为企业高效生产奠定基础.
关键词:
残影
,
扭曲向列型
,
配向弱区
,
内部电场
刘利萍
,
刘勇兵
,
姬连峰
,
曹占义
,
杨晓红
稀有金属
球磨工艺对球磨粉末及其烧结组织的微观结构和形态都有重要的影响.本实验采用低能和高能球磨2种方式对Ti-7Al-0.2B(质量分数,％)合金粉末进行球磨,研究球磨过程中粉末组织和形态的变化,并将球磨后的粉末进行热压烧结,研究不同球磨方式对烧结组织中原位合成TiB增强相形态的影响.研究结果表明:低能球磨过程中,粉末颗粒间有机械合金化发生,其烧结组织中生成的TiB为细长态,在基体中分布均匀,没有联结的粗晶或成簇生长现象.对于高能球磨,粉末颗粒细化效果明显,颗粒平均尺寸降至1 μm,球磨过程中除了机械合金化还形成了Ti(Al)过饱和固溶体,并在球磨后期形成了非晶结构.经高能球磨的粉末烧结后,组织中生成了均匀分布的纳米级TiB晶须.
关键词:
球磨
,
热压烧结
,
TiB晶须
艾雨
,
刘利萍
,
周纪登
液晶与显示
doi:10.3788/YJYXS20153002.0202
通过对大量显示不均样品进行分析,找到了显示不均产生的直接原因和根本原因,并基于分析结果设计了改善显示不均的实验.通过分析发现：显示不均产生的直接原因是重力引起的柱形隔垫物位置偏移；根本原因是柱形隔垫物尺寸太小,周边没有可以阻挡柱形隔垫物位置偏移的金属线.实验结果显示：用盒子运输面板,或缩短面板在卡夹中的放置时间,可有效改善显示不均,但不适用于量产；此外,增大柱形隔垫物尺寸,从而减小柱形隔垫物周围空间可从根源上改善显示不均.通过将柱形隔垫物的尺寸由15μm 增加到23μm,显示不均的不良等级由 Level 4降为 Level 2．5,不良得到有效改善.
关键词:
大尺寸
,
显示不均
,
柱形隔垫物
,
面板
