张旭
,
阎少林
,
孙冬艳
,
冯洪辉
,
何明
,
方兰
低温物理学报
doi:10.3969/j.issn.1000-3258.2005.04.005
本文报导一种测量高温超导薄膜微波表面电阻的新方法和测试装置.通过对加载两个不同蓝宝石的同一谐振腔进行测试,可以得到测试样品以外所有其它损耗对应的Q值.根据电磁场分布计算出谐振腔的结构参数G.用网络分析仪测量出谐振腔的无载Q值,便可计算出超导薄膜的微波表面电阻Rs.测量过程中既不会损伤超导薄膜样品,同时可以实现单片超导薄膜表面电阻的绝对测量,不需要校准件,测量简便可靠,精度高.
关键词:
蓝宝石谐振器
,
超导薄膜表面电阻
,
品质因数
