李建英
,
侯林林
,
贾然
,
高璐
,
武康宁
,
李盛涛
无机材料学报
doi:10.15541/jim20150118
研究了尖晶石型CuAl2O4掺杂对CaCu3Ti4O12陶瓷显微结构、介电性能以及松弛特征和缺陷结构的影响。在频率为10-1~107 Hz、温度为153~453 K的条件下测量了样品的介电性能。研究表明,适量添加CuAl2O4,使样品晶粒尺寸减小并趋于均匀,击穿场强从CaCu3Ti4O12陶瓷样品的3.0 kV/cm提高到13.0 kV/cm,低频介电损耗减小。介电松弛中的高频松弛过程起源于晶粒本征缺陷的电子松弛过程,其活化能~0.10 eV基本不变；随着CuAl2O4含量增加,与界面相关的松弛活化能从0.50 eV减小到0.22 eV,可能与CuAl2O4在样品中引入杂质及更复杂的界面有关；电导活化能从0.66 eV增至0.86 eV,归因于CuAl2O4第二相抑制了晶界处的载流子跳跃,提高了Schottky势垒高度。CuAl2O4掺杂量大于100mol%,过量CuAl2O4会导致样品晶界势垒崩塌,样品失去非欧姆特性和巨介电性能。
关键词:
CaCu3Ti4O12
,
介电性能
,
压敏特性
