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低温电解渗硫层及其形成机理的XPS研究

王当憨 , 伍岩

金属学报

本文的XPS(X射线光电子能谱)结果揭示了,渗硫层中的主要成分并非为人们通常认为的仅是FeS(?)一种,而是FeS和FeSO_3两种,并且二者的相对含量基本相等。

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