张月蘅
,
徐政
,
罗虹
,
丁旗
,
任聪
,
吴希凡
,
邱里
,
林风勇
,
丁世英
低温物理学报
doi:10.3969/j.issn.1000-3258.2000.04.003
我们采用直流四引线法对银包套的Bi2-xPbxSr2Ca2Cu3Oy(Ag-Bi2223)带材进行了临界电流的测量.研究了外加磁场和电流扫描速度对临界电流的影响.结果表明,电流扫描速度和磁场增加使临界电流减小,并且磁场增加使V-I曲线对加电流速度的敏感程度发生变化.利用电动力学方程和磁通玻璃态蠕动机制对实验结果进行了解释,将磁场、温度、磁通钉扎强度对约化临界电流的影响归结成单一的临界电流参数n的影响,和实验结果符合得比较满意.
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