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稀H 2 SO 4液滴对PCB初期腐蚀行为的影响

丁康康 , 肖葵 , 邹士文 , 董超芳 , 李昊然 , 李晓刚

中国有色金属学报

采用交流阻抗谱(EIS)和扫描Kelvin探针(SKP)技术研究4种表面工艺处理印制电路板(PCB)试样在不同pH值稀H 2 SO 4液滴下的腐蚀行为,通过体视学显微镜和扫描电镜结合能谱对PCB上液滴扩展和腐蚀行为进行观察分析。结果表明:覆铜板(PCB-Cu)在液滴作用下发生全面腐蚀;无电镀镍金处理电路板(PCB-ENIG)主要为微孔腐蚀,腐蚀微孔数目由液滴边缘向液滴中心区域逐渐递减,而化学浸银处理电路板(PCB-ImAg)的腐蚀仅局限于液滴边缘,两者基底金属均发生了不同程度的腐蚀;热风整平无铅喷锡板(PCB-HASL)的腐蚀最轻微。结合EIS和SKP分析表明:稀H 2 SO 4能够活化液滴作用区域,增大试样表面电位差,从而促进试样腐蚀;整体上,PCB-ENIG试样的耐蚀防护性能略优于PCB-ImAg试样的,PCB-HASL的最优。

关键词: 覆铜板 , 无电镀镍金 , 化学浸银 , 稀H2SO4

静水压力和预应力对新型Ni-Cr-Mo-V高强钢腐蚀行为的影响*

范林 , 丁康康 , 郭为民 , 张彭辉 , 许立坤

金属学报 doi:10.11900/0412.1961.2015.00577

通过腐蚀速率的测量和腐蚀形貌的SEM观察, 结合点蚀形态的统计分析和点蚀内部及周围应力分布的有限元(FE)分析, 研究了静水压力和预加载拉伸应力对新型Ni-Cr-Mo-V高强钢在模拟深海环境中的腐蚀行为的影响. 结果表明, 随静水压力和预应力的升高, Ni-Cr-Mo-V高强钢的腐蚀速率增大, 表现在点蚀的萌生、发展和合并过程. 静水压力促进了点蚀微孔的萌生和在高强钢表面的随机分布. 静水压力和预应力在点蚀的生长过程中表现出了交互作用, 这在高预应力水平下更加显著. 静水压力以促进点蚀沿平行于表面的生长为主, 预应力是使点蚀深度增大的要素. 点蚀易于沿垂直于预应力方向合并. 随着静水压力和预应力的升高, 点蚀径深比增大, Ni-Cr-Mo-V高强钢向均匀腐蚀转变.

关键词: 高强钢 , 静水压力 , 预应力 , 深海环境 , 点蚀

PCB-HASL电路板在NaHSO3/Na2SO3溶液中的腐蚀电化学行为

丁康康 , 肖葵 , 邹士文 , 董超芳 , 赵瑞涛 , 李晓刚

金属学报 doi:10.11900/0412.1961.2014.00087

采用电化学阻抗谱(EIS)和扫描Kelvin探针技术(SKP)研究了热风整平无铅喷锡处理印制电路板(PCB-HASL)在模拟电解质0.1 mol/L NaHSO3以及不同pH值的0.1 mol/L NaHSO3Na2SO3溶液中的腐蚀行为与机理,探讨了浸泡时间和pH值对其腐蚀机理转变的影响,通过OM,SEM结合EDS对PCB-HASL表面上腐蚀产物形核和扩展行为进行了观察和分析.结果表明,PCB-HASL试样在酸性NaHSO3/Na2SO3溶液体系中的腐蚀形式类似点蚀,浸泡前期腐蚀坑加速扩展,腐蚀产物主要为Sn的氧化物和硫酸盐.NaHSO3溶液能够活化PCB-HASL试样表面,且腐蚀坑形核仅发生在浸泡初期.而在中性或碱性NaHSOJNa2SO3溶液体系中,PCB-HASL试样表面腐蚀坑形成受到抑制,电解质溶液通过氧化膜向电极界面的传输过程限制了电极反应速率.

关键词: 印制电路板 , 热风整平无铅喷锡 , NaHSO3溶液 , 电化学腐蚀 , 扫描Kelvin探针

静水压力和预应力对新型Ni-Cr-Mo-V高强钢腐蚀行为的影响

范林 , 丁康康 , 郭为民 , 张彭辉 , 许立坤

金属学报 doi:10.11900/0412.1961.2015.00577

通过腐蚀速率的测量和腐蚀形貌的SEM观察,结合点蚀形态的统计分析和点蚀内部及周围应力分布的有限元(FE)分析,研究了静水压力和预加载拉伸应力对新型Ni-Cr-Mo-V高强钢在模拟深海环境中的腐蚀行为的影响.结果表明,随静水压力和预应力的升高,Ni-Cr-Mo-V高强钢的腐蚀速率增大,表现在点蚀的萌生、发展和合并过程.静水压力促进了点蚀微孔的萌生和在高强钢表面的随机分布.静水压力和预应力在点蚀的生长过程中表现出了交互作用,这在高预应力水平下更加显著.静水压力以促进点蚀沿平行于表面的生长为主,预应力是使点蚀深度增大的要素.点蚀易于沿垂直于预应力方向合并.随着静水压力和预应力的升高,点蚀径深比增大,Ni-Cr-Mo-V高强钢向均匀腐蚀转变.

关键词: 高强钢 , 静水压力 , 预应力 , 深海环境 , 点蚀

原位研究 PCB-ENIG 在吸附薄液膜下的大气腐蚀行为

易盼 , 肖葵 , 丁康康 , 李刚 , 董超芳 , 李晓刚

中国有色金属学报(英文版) doi:10.1016/S1003-6326(16)64213-9

通过阴极极化曲线、交流阻抗谱以及 SEM、XPS,原位研究了相对湿度对无电镀镍金印制电路板(PCB-ENIG)在吸附薄液膜下的影响机制。结果表明:PCB-ENIG 板在薄液膜下的阴极过程主要包括 O2、腐蚀产物和 H2O 的还原过程。阴极电流密度随相对湿度的增加而增加,并且均小于溶液中阴极电流密度,表明扩散过程并不是阴极氧化还原过程的控制步骤。极化电位较负时,75%和85%相对湿度下的阴极极化电流密度逐渐减小。随着腐蚀产物的增加,试验后期腐蚀过程由阳极过程控制。

关键词: 电子材料 , 吸附薄液膜 , 阴极极化曲线 , 电化学交流阻抗谱 , 相对湿度

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