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尺寸效应对微电极腐蚀行为的影响

文静 , , 邱于兵 , 陈振宇 , 郭兴蓬

中国腐蚀与防护学报

采用动电位极化、交流阻抗(EIS)和电化学噪声(ECN)等电化学方法研究了304不锈钢微电极的腐蚀行为。实验结果表明:极限扩散电流密度与电极尺寸之间具有非线性关系,随着电极面积的减小,极限扩散电流密度增大,溶液阻抗减小,双电层电容增大,自腐蚀电位负移,腐蚀电流密度增大。电化学噪声谱表明,随着电极面积减小,亚稳态点蚀噪声峰的频度降低,亚稳态点蚀的发生存在一个临界尺寸。

关键词: 304不锈钢 , micro-electrode , size effect , potentiodynamic polarization , EIS , ECN

弯管段流速对 AZ91D 镁合金腐蚀行为的影响

田径 , , 潘志权 , 周红

中国有色金属学报(英文版) doi:10.1016/S1003-6326(16)64414-X

基于阵列电极技术使用自制的环路系统并采用极化、计算流体力学(CFD)模拟和表面分析技术研究环路系统中弯管段流速对 AZ91D 镁合金腐蚀行为的影响。实验结果表明,AZ91D 镁合金的腐蚀速率随着流速的增加而增加,且 AZ91D 镁合金在流动介质中的腐蚀可能存在临界流速。当介质的流速超过临界流速时,流体力学因素在 AZ91D 镁合金腐蚀中占主导地位;反之,电化学腐蚀因素占主导地位。

关键词: 镁合金 , 流速 , 弯管 , 计算流体力学(CFD) , 极化

渚文化玉器的稀土元素特征及其考古学意义

程军 , 杨学明 , 杨晓勇 , 王昌燧 , 王巨宽

稀土 doi:10.3969/j.issn.1004-0277.2000.04.001

本文利用ICP-MS对新石器时代渚文化瑶山遗址出土的古玉器进行了稀土元素分析,并与产于新疆和阗玉石矿的软玉进行了对比.结果表明,瑶山古玉器的稀土元素配分型式、特征比值均明显不同于和阗玉,说明渚文化玉器的玉石应选自当地,这与李约瑟[1]教授认为中国古玉器都源于新疆和阗的论点不同.

关键词: 渚玉器 , ICP-MS , 稀土元素(REE) , 产地分析

第四届“吴仲奖励基金”评选出获奖者

工程热物理学报

根据《吴仲奖励基金章程》(吴奖[2008]01号),经各高等院校、中国工程热物理学会和中国科学院工程热物理研究所认真评选和推荐,吴仲奖励基金理事会评审并确定授予青年学者戴巍、罗坤、唐桂“吴仲优秀青年学者奖”,授予程雪涛等10位同学“吴仲优秀学生奖”。

关键词: 基金 , 奖励 , 评选 , 获奖者 , 中国科学院 , 青年学者 , 物理研究所 , 高等院校

原胶及其应用

徐世艾

材料导报

原胶是一种生物高分子,广泛应用于30多个行业.综述了原胶的生物化学、发酵工艺、产品后处理及其应用等方面的进展.

关键词: 原胶 , 发酵 , 工程 , 后处理 , 应用

第五届“吴仲奖励基金”评选出获奖者

工程热物理学报

根据《吴仲奖励基金章程》(吴奖[2010]01号),经各高校、中国工程热物理学会和中国科学院工程热物理研究所遴选和推荐,以及吴仲奖励基金理事会评审,决定授子钟文琪、张鹏、张明明、徐纲4位青年学者“吴仲优秀青年学者奖”,授予顾超等13位同学“吴仲优秀学生奖”。

关键词: 基金 , 奖励 , 获奖者 , 中国科学院 , 评选 , 青年学者 , 物理研究所 , 物理学会

“庆祝邵象院士百岁华诞座谈会”隆重召开

钢铁研究学报

2012年2月22日是两院院士邵象先生百岁华诞的大喜日子,2月21日上午,中国钢研科技集团有限公司为邵象院士百岁华诞举办了隆重的座谈会。

关键词: "庆祝邵象院士百岁华诞座谈会" , 钢铁工业 , 科技工作者 , 学术作风

变型UV塑料面漆

陈顺凉 , 瑞村 , 薛永富

涂料工业 doi:10.3969/j.issn.0253-4312.2004.10.009

本文通过选用合适的低聚物和单体组合,使用非变型光引发剂,对不同类型的塑料应用进行配方设计.分别测试了涂膜的耐变性、光泽、硬度、耐刮擦性能.

关键词: 紫外光 , 固化 , 塑料涂料 , , 研究

“庆祝邵象院士百岁华诞座谈会”隆重召开

钢铁

2012年2月22日是两院院士邵象先生百岁华诞的大喜日子,2月21日上午,中国钢研科技集团有限公司为邵象院士百岁华诞举办了隆重的座谈会。座谈会会场一幅以长城和中国钢铁工业为背景的巨型彩色喷绘画卷蕴喻了邵象院士的成长经历和学术贡献。座谈会高朋满座,群贤毕集。中国材料界学术泰斗,国家最高科学技术奖获得者师昌绪院士、中国工程院名誉院长徐匡迪院士、中国科学院副院长李静海院士、

关键词: 师昌绪院士 , 国家最高科学技术奖 , 中国工程院 , 学术贡献 , 钢铁工业 , 中国科学院 , 成长经历 , 副院长

磁控溅射成膜温度对纯铝薄膜小丘生长以及薄膜晶体管阵列工艺率的影响

刘晓伟 , 郭会斌 , 李梁梁 , 郭总杰 , 郝昭慧

液晶与显示 doi:10.3788/YJYXS20142904.0548

纯铝薄膜被广泛用作TFT LCD的金属电极,但纯铝薄膜在热工艺中容易产生小丘,对TFT的阵列工艺的率有较大影响.本文用磁控溅射的方法在不同温度下沉积纯铝薄膜作为薄膜晶体管的栅极,并通过电学检测、扫描电子显微镜和应力测试等方法对不同温度下沉积的纯铝薄膜的小丘生长情况进行了研究.实验结果表明:纯铝成膜温度提高,薄膜的晶粒尺寸增大,退火后产生小丘的密度和尺寸明显降低,温度应力曲线中屈服点温度也相应提高.量产中适当提高成膜温度,可以有效抑制小丘的发生,提高TFT阵列工艺的量产率.

关键词: 薄膜晶体管阵列工艺 , 磁控溅射 , 纯铝薄膜 , 小丘 , 量产

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