霍影
,
宣天鹏
材料保护
doi:10.3969/j.issn.1001-1560.2005.08.004
以往对稀土Ce+La影响真空熔覆Ni基/WC涂层的探讨较少.采用真空熔覆的方法在45钢上获得添加有稀土的Ni基/WC复合涂层,借助X射线衍射、SEM及EDX研究了涂层的显微组织、化学成分和相结构.结果表明:稀土的加入改善了真空熔覆Ni基/WC复合涂层的组织,消除了针状相,使组织更加均匀致密;稀土还降低了Ni基/WC涂层各组成相中Fe元素的含量,减缓了Fe原子对Ni基合金涂层的"稀释"作用;稀土还使真空熔覆Ni基/WC涂层的(Ni,Fe)固溶体基体部分转变成了(Ni,Cr,Fe)固溶体基体,并析出了新的第二相NiB.
关键词:
真空熔覆
,
Ni基涂层
,
稀土
,
WC
,
显微组织
宣天鹏
,
霍影
,
闵丹
材料热处理学报
doi:10.3969/j.issn.1009-6264.2005.05.013
研究了真空熔结镍基金属陶瓷复合涂层纵截面的微观组织形态、化学组成、相结构,及合金元素与显微硬度的分布特征.结果表明:稀土(Ce+La)消除了Ni60+WC涂层中的针状相,改变了析出相的分布形态,增加了熔合带的宽度.稀土改变了涂层的化学组成,提高了Ni、Cr、Si和W的含量;降低了Fe的含量.Ni60+WC+RE涂层还析出了新的Cr3Ni5Si2相.两种Ni60+WC复合涂层显微硬度的最大值都出现在距涂层表面的0.2mm处,稀土明显地提高了复合涂层的显微硬度.
关键词:
Ni60+WC复合涂层
,
稀土元素
,
界面形态
,
元素和硬度分布
艾雨
,
蒋学兵
液晶与显示
doi:10.3788/YJYXS20153004.0566
通过对大量残影不良样品进行分析,找到了残影不良产生的原因,并基于分析结果设计了改善残影的实验.通过分析发现:残影不良产生的原因是彩膜侧像素与黑矩阵之间的段差过大,在摩擦工程时段差过大区域形成了摩擦弱区,摩擦弱区内的液晶分子配向较弱,导致不良产生.为降低残影不良进行实验,结果显示:在彩膜侧加覆盖层可以有效降低残影不良的发生率,但不适用于量产;通过采用高预倾角的配向膜材料,同时控制配向膜工程到摩擦工程的时间,可使残影不良发生率由28.2％降低至0.2％,为企业的稳定高效生产奠定了基础.
关键词:
残影
,
扭曲向列型
,
预倾角
,
面板
李铭
,
卢彦飞
,
袁刚
,
吴中毅
,
张涛
液晶与显示
doi:10.3788/YJYXS20153006.1032
针对 CT 系统在实际应用中出现的金属伪影问题，提出一种基于先验插值的金属伪影校正算法。文中通过预滤波、骨骼分割和软组织恢复步骤计算先验图像，并利用先验图像的正向投影对原始投影中的金属投影区进行插值校正。应用该算法对数值仿真图像和临床 CT 图像分别进行了校正重建实验。数值仿真实验表明，用提出算法校正的结果比线性插值金属伪影校正算法、归一化金属伪影校正算法校正的结果更接近理想体模。临床数据实验表明：该算法的重建结果有效抑制了金属伪影，清晰重建出金属边缘细节，极大地提高了重建图像的质量。
关键词:
金属伪影
,
先验图像
,
预滤波
,
软组织恢复
范恒亮
,
汤展峰
,
刘利萍
,
李静
,
黄静
,
刘岩龙
液晶与显示
doi:10.3788/YJYXS20163103.0270
影像残留是TFT-LCD,特别是TN型产品常见的不良,对产品良率影响很大.本文从产品设计、工艺参数、工艺管控3个方面对残影进行分析.发现产品设计时Data线两侧段差过大,是导致残影发生的主要原因,通过增加配向膜厚度和摩擦强度值可以有效降低残影,实验得出配向膜膜厚高于110 nm,摩擦强度高于5.5N,m时无残影发生.通过控制配向膜工程与摩擦工程间的延迟时间在5h,摩擦工程与对盒工程间的延迟时间在10 h,并且严格管控ITO偏移量可以有效减少Panel内部电场,从而降低残影.通过以上措施,对于15.6HD产品,良率提升了10％,为企业高效生产奠定基础.
关键词:
残影
,
扭曲向列型
,
配向弱区
,
内部电场
高原
,
朱民
工程热物理学报
燃烧室是燃气轮机的核心部件之一,其中的燃烧过程的关键技术之一是如何避免和抑制振荡燃烧现象.本文简要阐述了发生振荡燃烧的机理以及亥姆霍兹共振器抑制振荡燃烧的声学分析,并且通过线性分析与CFD计算相结合的研究方法对燃烧系统的燃烧稳定性进行计算;同时分析了共振器共振频率和安装位置对燃烧稳定性的影响,得出在不同因素影响下,系统的稳定性和模态.这些分析有助于我们在设计和运行燃烧系统时,实现燃烧系统的安全、高效和清洁运行.
关键词:
振荡燃烧
,
亥姆霍兹共振器
,
线性分析
赵文冲
,
唐军
,
张黎明
物理测试
一台德产霍梅尔（Hommel）T8000表面粗糙度测量仪在使用几年之后出现故障无法使用,主要表现为：测量传感器电控无法左右移动及传感器检测失灵,整机不能实现全自动检测。通过对机械结构及电气连接方面的分析检查,结果表明：该机LV扫描驱动箱内部由于导向杆上生锈斑和螺杆表面污染产生杂质,造成了滑块轴向移动时机械卡阻;在电气方面,由于传感器接插件内部插针错位的异常断路,导致传感器不工作造成无信号输出。经过机械部分清理加油及传感器接插件部分重新校正处理后设备已完全恢复正常,可全程实现全自动测试。
关键词:
粗糙度测量仪
,
霍梅尔T8000
,
LV驱动箱
,
传感器
,
故障维修
