张智慧
,
涂恩照
,
台本华
黄金
doi:10.11792/hj20130904
店房金矿床位于河南嵩县，经过勘探，提交金金属量12．62 t，伴生铅金属量26370 t，银金属量153．16 t。矿区δ34 S值为3．4‰～5．9‰，离散程度小，表明经过了均一化过程，也说明成矿物质是地幔和下地壳混合来源；铅同位素变化较小，206 Pb/204 Pb为16．9314～17．4121，207 Pb/204 Pb为15．1607～15．1753，208 Pb/204 Pb为37．3210～38．7644，铅同位素研究显示成矿铅来自地幔和下地壳，结合构造通道和矿体形态研究，可以预测在矿区爆破角砾岩外围东南深部存在隐伏岩体；矿区硫同位素显示，矿体中方铅矿δ34 S、近矿围岩方铅矿δ34 S、远矿围岩δ34 S具有不同特征，通过对钻探岩芯中方铅矿δ34 S测试可以为深部找矿勘探提供依据。
关键词:
店房金矿床
,
稳定同位素
,
成矿示踪
,
河南嵩县
宋彦萍
,
陈焕龙
,
李亚超
,
陈浮
工程热物理学报
采用商业软件ANSYSCFX研究了具有圆形和椭圆形柯恩达表面的环量控制叶型在不同射流速度下的流场和性能。结果表明：小的射流速度和大的柯恩达表面型线曲率是导致射流分离的主要因素，采用高速射流绕流大曲率柯恩达表面能够获得较大气流角和膨胀比，但同时带来较大的能量损失，叶栅气动性能与柯恩达表面形状和射流条件密切相关。
关键词:
燃机涡轮
,
环量控制叶型
,
柯恩达表面形状
,
射流速度
宋彦萍
,
杨晓光
,
李亚超
,
陈浮
工程热物理学报
采用商业软件Fluent针对网格疏密程度和湍流模型对利用柯恩达效应的环量控制翼型二维流场的影响进行了研究,并以实验结果为参照,进行了对比分析.结果表明:网格的疏密和湍流模型的选取对流场细节的捕捉和性能参数的预测有显著影响.在此基础上研究了具有圆、椭圆和对数螺线形式柯恩达表面的环量控制翼型性能的变化,初步探讨了射流层附壁与高曲率表面特征参数的关联.
关键词:
环量控制翼型
,
柯恩达效应
,
湍流模型
,
柯恩达表面形状
李铸国
,
华学明
,
吴毅雄
,
三宅正司
金属学报
用诱导型等离子体辅助磁控溅射装置在Si(100)表面低温沉积TiN膜, 研究了高密度低能量(≈20 eV)离子束辅照对溅射镀TiN膜生长、结构和性能的影响。结果表明, 高密度低能离子束辅照会改变TiN膜的择优生长方向并使薄膜致密化。即使沉积温度低于150℃, 当入射基板离子数和Ti原子数的比值J/JTi≥4.7时, 沉积的TiN膜仍可具有完全的(200)面择优生长, 薄膜微观结构致密, 硬度达到25GPa, 残余压应力小。
关键词:
TiN薄膜
,
null
,
null
李铸国
,
华学明
,
吴毅雄
,
三宅正司
金属学报
doi:10.3321/j.issn:0412-1961.2005.10.016
用诱导型等离子体辅助磁控溅射装置在Si(100)表面低温沉积TiN膜,研究了高密度低能量(≈20 eV)离子束辅照对溅射镀TiN膜生长、结构和性能的影响.结果表明,高密度低能离子束辅照会改变TiN膜的择优生长方向并使薄膜致密化.即使沉积温度低于150℃,当入射基板离子数和Ti原子数的比值Ji/JTi≥4.7时,沉积的TiN膜仍可具有完全的(200)面择优生长,薄膜微观结构致密,硬度达到25 GPa,残余压应力小.
关键词:
TiN薄膜
,
物理气相沉积(PVD)
,
择优取向
,
离子照射
汪雪雁
,
檀华蓉
,
祁克宗
,
邵黎
,
李慧
,
薛秀恒
,
谢英
色谱
doi:10.3724/SP.J.1123.2010.01107
以恩诺沙星为模板分子,α-甲基丙烯酸为功能单体,二甲基丙烯酸乙二醇酯为交联剂,制备了恩诺沙星分子印迹聚合物.以该分子印迹聚合物为固相萃取材料,采用高效毛细管电泳分离方式,建立了分子印迹固相萃取-高效毛细管电泳检测鸡肉中恩诺沙星的方法.结果表明,该方法能有效地萃取和检测鸡肉中的恩诺沙星.在优化条件下,恩诺沙星的检出限为92.02 μg/kg,定量限为336.04 μg/kg;不同恩诺沙星添加水平下的回收率为77.84%～86.52%,相对标准偏差为2.18%～3.76%.该方法适用于鸡肉中恩诺沙星残留的测定.
关键词:
分子印迹聚合物
,
固相萃取
,
高效毛细管电泳
,
恩诺沙星
,
鸡肉
朱明
,
洪杰
涂料工业
doi:10.3969/j.issn.0253-4312.2011.05.002
涂膜开裂是常见的涂膜弊病,长期以来,是涂料配方设计要考虑解决的问题.涂膜开裂存在多种模式,根据毛细管理论,存在颗粒比表面积和不发生开裂的最低成膜厚度之间的关系.文章研究了不同的乳液粒径、不同的填料粒径和最低成膜厚度的关系,并对数据进行拟合.结果表明:颗粒的比表面积大小直接决定了不发生开裂的最低成膜厚度,比表面积越大,最低成膜厚度越薄.两者之间经过数据拟合符合经验公式y=1116x-1.7,为配方开发人员进行理论计算和预测提供了依据.
关键词:
毛细管理论
,
比表面积
,
最低成膜厚度
,
涂膜
