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COB封装中芯片在基板不同位置的残余应力

, 黄卫东 , 蒋玉齐 , 罗乐

功能材料与器件学报 doi:10.3969/j.issn.1007-4252.2002.04.016

利用硅压阻力学芯片传感器作为原位监测的载体,研究了直接粘贴芯片的封装方式中,芯片在基板上的不同位置对于封装后残余应力的影响以及在热处理过程中残余应力的变化,发现粘贴在基板靠近边的位置和中心位置时应力水平接近,但是靠近基板一角的位置应力较大,而且在热处理过程中应力出现"突跳"和"尖点".

关键词: 硅压阻传感器 , 残余应力 , 位置 , 失效

粘接剂对直接粘贴芯片表面残余应力的影响

, 黄卫东 , 张群 , 罗乐 , 程兆年

功能材料与器件学报 doi:10.3969/j.issn.1007-4252.2002.02.022

封装所导致的残余应力是电子器件封装和组装重点关注的问题.利用硅压阻传感器,原位实时地记录了不同粘接剂在FR4有机层压板衬底上固化过程中芯片表面的应力变化和残余应力的分布状况.研究表明,使用热膨胀系数较小的有机粘接剂粘贴芯片时,可获得较低的残余应力和相对优越的应力分布.该方法可作为芯片直接粘接时选择有机粘接剂的参照.

关键词: 硅压阻应力传感器 , 粘接剂 , 残余应力

电熔耐火材料的超声检测技术应用研究

, 承绪 , 于衍宏 , 强振南

耐火材料 doi:10.3969/j.issn.1001-1935.2000.06.015

本文主要包括超声穿透法对缩孔和裂纹的检测、结构均匀性检测和采用平测法对电熔耐火材料残余厚度和开口裂纹深度的检测。试验结果表明:采用(T'-V')法能判断电熔砖缩孔的形状、大小和位置;完整波形数目是确定裂纹扩展面积的有效参量;采用平测法能检测电熔耐火材料的残余厚度和开口裂纹深度,检测精度在7%以内。

关键词: 超声波 , 无损检测 , 电熔耐火材料

SnAgCu表面贴装焊点在时效和热循环过程中的组织及剪切强度变化

肖克来提 , 杜黎光 , , 盛玫 , 罗乐

金属学报

研究了SnAgCu/Cu和SnAgCu/Ni-P/Cu表面贴装焊点在时效和热循环过程中的微结构及剪切强度的变化结果表明,SnAgCu与Cu的反应速率大于其与Ni-P的反应速率.经长时间时效后,SnAgCu/Cu焊点中SnAgCu与Cu的界面成为弱区,而SnAgCu/Ni-P/Cu焊点的剪切断裂则发生在Ni-P与Cu的界面.热循环过程中两种焊点均产生裂纹且强度下降.长时间热循环后Ni-P与Cu分层脱开,SnAgCu/Ni-P焊点失去强度.

关键词: SnAgCu钎料 , null , null

机翼表面结冰热力学模型

付斌 , , 朱程香 , 朱春玲

工程热物理学报

基于 Messinger 控制体的思想建立了翼型表面的冰生长热力学模型,论述了模型的求解方法;采用边界层积分法计算 LHTc(Local Heat,Transfer Coefficient),并嵌入了粗糙度对表面换热的影响;计算得到的 LHTc 与文献中的结果做了比较验证.本文编制了冰形计算程序模块,集成到自主开发的预测软件中,模拟了不同结冰气象条件下,NACAOO12翼型在 4°攻角时表面槽状冰、混合冰、楔形冰的形成.数值模拟的结果与文献中提供的实验结果吻合良好,表明本文所用模型及方法可行且有效.

关键词: 冰生长数学模型 , 边界层积分法 , 表面粗糙度 , 对流换热系数 , 冰形

银币表面非晶氧化铝抗变色保护层

罗建军 , 马麟 , , 唐光泽

腐蚀与防护

采用反应磁控溅射技术在银币表面沉积非晶氧化铝抗变色膜.采用掠入射X-射线衍射(GXRD)、X-射线光电子谱(XPS)和原子力显微镜(AFM)对薄膜结构和形貌进行了研究.沉积了氧化铝膜的银币在0.5 mol/L NaCl+10 mmol/L Na2S混合溶液中的自腐蚀电位升高,腐蚀电流密度降低.在H2S蒸汽环境中的加速实验结果表明,表面沉积了氧化铝膜的银币具有优异的抗变色性能.

关键词: 银币 , 非晶氧化铝 , 反应溅射

SnAgCu表面贴装焊点在时效和热循环过程中的组织及剪切强度变化

肖克来提 , 杜黎光 , , 盛玫 , 罗乐

金属学报 doi:10.3321/j.issn:0412-1961.2001.04.022

研究了SnAgCu/Cu和SnAgCu/Ni-P/Cu表面贴装焊点在时效和热循环过程中的微结构及剪切强度的变化结果表明,SnAgCu与Cu的反应速率大于其与Ni-P的反应速率.经长时间时效后,SnAgCu/Cu焊点中SnAgCu与Cu的界面成为弱区,而SnAgCu/Ni-P/Cu焊点的剪切断裂则发生在Ni-P与Cu的界面.热循环过程中两种焊点均产生裂纹且强度下降.长时间热循环后Ni-P与Cu分层脱开,SnAgCu/Ni-P焊点失去强度.

关键词: SnAgCu钎料 , 金属间化合物 , 表面贴装 , 时效 , 热循环

衬底类型对粘贴芯片表面残余应力的影响

, 黄卫东 , 罗乐

金属学报

封装所导致的残余应力是电子器件封装和组装重点关注的问题.本工作利用硅压阻传感器,实时原位地记录了在不同基板材料(FR4和Al2O3陶瓷)上粘接剂固化过程中的应力变化和残余应力的分布状况.研究表明,在不同基板材料上固化时,应力演化过程不同;Al2O3陶瓷基板上芯片的残余应力明显低于FR4基板.

关键词: 芯片粘贴 , null

衬底类型对粘贴芯片表面残余应力的影响

, 黄卫东 , 罗乐

金属学报 doi:10.3321/j.issn:0412-1961.2001.12.011

封装所导致的残余应力是电子器件封装和组装重点关注的问题.本工作利用硅压阻传感器,实时原位地记录了在不同基板材料(FR4和Al2O3陶瓷)上粘接剂固化过程中的应力变化和残余应力的分布状况.研究表明,在不同基板材料上固化时,应力演化过程不同;Al2O3陶瓷基板上芯片的残余应力明显低于FR4基板.

关键词: 芯片粘贴 , 硅压阻应力传感器 , FR4 , Al2O3 , 残余应力

胶西北前家—洼家断裂带构造地球化学找矿预测

祝涛 , 杨斌

黄金 doi:10.11792/hj20160103

马虎沟测区位于灵北断裂带下盘,区内主干断裂为前家—洼家断裂,发育似斑状郭家岭型花岗闪长岩和玲珑型片麻状黑云母花岗岩. 本次地表构造地球化学测量范围约15 km2 ,采集构造地球化学样品共858件,测试元素包括Au、Ni、Pb、Co、Mo、Sn、Zn、Ti、Cr、As、Sb、Hg、Ag、Cu、Ba、Bi、B、Mn、V等19种. Au元素异常沿前家—洼家断裂带及次级断裂分布特征明显. 分形分维统计表明,Au具有多阶段成矿的特征. 结合多元统计分析,厘定本测区构造地球化学异常找矿标志为Au-Pb-Bi元素组合异常及因子得分Y(i,2)和Y(i,3)异常. 结合地质分析,圈定找矿靶区5处.

关键词: 找矿预测 , 构造地球化学 , 多元统计分析 , 家—洼家断裂带

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