邵起越
,
袁涛
,
李爱东
,
董岩
,
方峰
,
蒋建清
,
刘治国
功能材料
通过一种简便可行的合成工艺,成功合成了3种具有良好挥发性的无碳前体:无水硝酸钛、硝酸锆和硝酸铪.以这些无水金属硝酸盐为前体,采用化学气相沉积(CVD)工艺成功淀积了具有良好介电性能的3种高介电常数(high-k)氧化物薄膜:TiO2、ZrO2和HfO2薄膜.这类不含碳的金属前体能直接在Si衬底上气相...
关键词:
无水硝酸盐
,
化学气相沉积(CVD)
,
高介电常数(high-k)栅介质
朱信华
,
杭启明
,
邢智彪
,
汤振杰
,
宋晔
,
朱健民
,
刘治国
无机材料学报
doi:10.3724/SP.J.1077.2010.01252
采用化学自组织方法在SrTiO3 (100)及Nb-掺杂 SrTiO3 (100) 单晶衬底上制备了外延BiFeO3纳米岛, 并利用X射线衍射、扫描电子显微镜和原子力显微镜对纳米岛的相结构及形貌进行了表征. 结果表明, 在650~80...
关键词:
BiFeO3
,
epitaxial nanoislands
,
chemical assembled method
,
structure and physical property
刘毅
,
林栋梁
,
汪德宁
,
陈达
,
陈世朴
,
刘治国
,
孟祥康
金属学报
利用透射电子显微镜研究了PST双相TiAl类单晶室温变形后的位错特征。发现除微孪晶和1/2<110]单位位错外,<011]超点阵位错和1/2<112]超点阵位错也参与了变形。<011]位错通常发生:[101]→1/2[101]+APB+1/6[211]+SISF+1/6[1 2]的分解,而1/2<1...
关键词:
PST晶体
,
TiAl
,
intermetallics
,
dislocation
,
deformation
刘毅
,
林栋梁
,
汪德宁
,
陈达
,
陈世朴
,
刘治国
,
孟祥康
金属学报
利用透射电子显微镜研究了PST双相TiAl晶体高温变形后的位错组态。发现微孪晶变形、1/2<110]单位位错、<011]超点阵位错、1/2<112]超点阵位错均参与了变形。螺型<011]超点阵位错可在{100}面上分解,构成Kear-Wilsdorf锁。400℃,600℃变形时由1/2<112]位错...
关键词:
PST晶体
,
TiAl
,
intermetallics
,
dislocation; high temperature deformation
,
null
朱信华
,
杭启明
,
邢智彪
,
汤振杰
,
宋晔
,
朱健民
,
刘治国
无机材料学报
doi:10.3724/SP.J.1077.2010.01252
采用化学自组织方法在SrTiO3(100)及Nb-掺杂SrTiO3(100)单品衬底上制备了外延BiFeO3纳米岛,并利用X射线衍射、扣描电子显微镜和原子力显微镜对纳米岛的相结构及形貌进行了表征.结果表明,在650~800℃下后退火1h可获得外延的BiFeO3纳米岛,岛横向尺寸在50~150 nm之...
关键词:
BiFeO3
,
外延纳米岛
,
化学自组织法
,
结构与物性
张华云
,
刘治国
材料保护
传统铬酸盐化学转化处理能提高镁合金的耐腐蚀性能,但因处理液有剧毒而受到限制.采用环保型金属处理剂植酸对AZ31B镁合金进行化学转化处理,通过正交试验初步确定了工艺参数(植酸浓度、处理液pH值、处理时间、处理温度)对植酸转化膜耐蚀性影响的主次顺序,并优化了工艺参数.采用扫描电子显微镜(SEM)、电子能...
关键词:
植酸转化膜
,
AZ31B镁合金
,
工艺参数
,
耐蚀性
李旭东
,
刘治国
,
穆志韬
,
朱武峰
腐蚀与防护
通过在EXCO溶液中浸润不同时间获得了LC9铝合金不同程度的腐蚀损伤,研究了在飞行谱作用下的LC9铝合金腐蚀坑萌生裂纹的扩展行为.结果表明,腐蚀损伤会严重降低试件的疲劳寿命,且腐蚀坑深度是描述腐蚀损伤和预测疲劳寿命的合适特征参数.基于AFGROW软件对预腐蚀试件疲劳寿命进行了预测,获得了较为有价值的...
关键词:
疲劳
,
腐蚀损伤
,
变幅载荷
,
裂纹扩展
,
疲劳寿命预测
朱信华
,
宋晔
,
杭启明
,
朱健民
,
周顺华
,
刘治国
无机材料学报
doi:10.3724/SP.J.1077.2010.00966
采用脉冲激光淀积法在硅基氧化铝纳米有序孔膜版介质上(膜版孔径平均尺寸25 nm, 内生长Pt纳米线作为底电极一部分)制备了纳米结构的BaTiO3铁电膜(膜厚25nm), 并对其铁电和介电性能以及微结构进行了表征. 结果表明, BaTiO3 铁电纳米膜的介电...
关键词:
BaTiO3
,
nanostructured ferroelectric films
,
dielectric and ferroelectric properties
,
microstructure