刘树英
,
周东祥
,
康健
,
陶明德
无机材料学报
通过对LaCrO3和NiMn2O4及其复合材料的大量的稳定性试验考察,发现复合材料的稳定性显著优于单相材料.本文应用缺陷化学理论对单相材料老化过程中阻值变化的原因进行了分析,分析表明:老化过程中由于瓷体表面及气孔内吸附的氧逐渐扩散到体内,使氧空位浓度减小,从而使p型半导瓷LaCrO3阻值缓慢减小,而使n型半导瓷NiMn2O4的阻值缓慢增大,解释了复合材料优异的耐高温特性是由于复合材料的补偿效应.
关键词:
复合电子陶瓷
,
stability
,
defect chemistry
刘树英
,
刘亚洲
,
李武会
,
张冬冬
,
毛钟泉
,
鈴村暁男
机械工程材料
doi:10.11973/jxgccl201611009
向Al-Si钎料中添加质量分数为0.1%~7.0%的锌粉,采用电弧炉熔炼法和单辊熔体快淬法制备了普通和急冷Al-Si-Zn钎料,并用这两种钎料对304不锈钢和6063铝合金进行钎焊,研究了这两种钎料的组织、抗拉强度以及钎焊接头的抗剪强度.结果表明:随着锌粉添加量增加,两种钎料的润湿角均减小;与普通钎料相比,急冷钎料的晶粒更加细小,组织更加均匀;当添加锌粉的质量分数为0.5%~3%时,Al-Si-Zn相呈弥散状,钎料强度较高;当添加锌粉的质量分数超过3%后,Al-Si-Zn相呈聚集状,钎料强度较低;成分相同时,急冷钎料的抗拉强度及接头的强度都高于普通钎料的;但急冷钎料仍为细晶结构而非非晶结构,其组织仍有待改善.
关键词:
Al-Si-Zn钎料
,
急冷
,
显微组织
,
抗拉强度
徐祖耀
材料热处理学报
刘文中,关于贝氏体形成机制,包括形核过程的文献很少被引述。作者(刘等)的主要论点为贝氏体铁素体以无扩散、非切变机制在奥氏体内贫碳区形核,并未引述形成贫碳区的必要条件。本文作者强调,在钢及铜合金中,不可能由Spinodal分解和位错偏聚形成贫溶质区。刘等的理念未得到先进理论观点和精细实验结果的支持。在刘文中,据此对临界核心大小和形核能的计算并无显著意义,期望青年学者对贝氏体相变机制作进一步研究。
关键词:
贝氏体形核
,
扩散机制
,
切变机制
,
贫碳区
蔡敏敏
,
李国霞
,
赵维娟
,
李融武
,
赵文军
,
承焕生
,
郭敏
硅酸盐通报
利用质子激发X射线荧光分析(PIXE)测试分析汝官瓷、张公巷窑青瓷和刘家门窑青瓷样品的主要化学组成,用多元统计判别分析方法对数据进行分析,以确定它们的分类和起源关系.结果表明:汝官瓷、张公巷窑青瓷和刘家门窑青瓷釉基本能很好的区分;但是胎区分得不是很理想,张公巷窑青瓷的胎可以和汝官瓷、刘家门窑青瓷胎很好的区分,汝官瓷胎和刘家门窑青瓷胎有个别样品不能分开.
关键词:
汝官瓷
,
张公巷窑青瓷
,
刘家门窑青瓷
,
判别分析
钢铁
进行相关热力学计算以研究高温燃烧过程二垩英生成的条件.计算得到:①在体系存在过剩氧即完全燃烧时不会产生二垩英;②当有固体碳沉积时也不会生成二垩英,因固体碳在热力学上比含二垩英的含碳物更稳定.另一方面,实际上即使在1 073 K完全燃烧条件下(即体系显著过剩氧)也有二垩英生成,原因是在实际燃烧炉中含碳微粒不可能完全烧尽.从热力学角度假设不发生碳沉积,计算得出二垩英在1 073 K高温和高CO/CO2比范围内会生成.实际考虑的条件放在燃烧炉内含碳微粒的周围.在有含碳微粒存在条件下,即使反应2CO→C+CO2(碳沉积)发生,C+CO2→2CO反应(CO生成;含碳微粒被CO2氧化)也会同时发生,导致在含碳微粒周围保持一个高的CO/CO2比,由此产生二垩英.假设在含碳微粒周围存在高CO/CO2比的异质位置,则认为二垩英会形成.
关键词:
燃烧过程
,
二垩英生成
,
含碳微粒
,
热力学
肖朋飞
,
赵红梅
,
李融武
,
赵文军
,
李国霞
,
赵维娟
,
承焕生
硅酸盐通报
本文采用质子激发X射线荧光分析(PIXE)技术测试了34个汝官瓷样品、30个蓝色系列钧官瓷样品(不含红釉系列)和17个刘家门窑青瓷样品的主量化学组成含量,根据这些样品的主量化学组成含量数据,应用多元统计分析方法进行分析.结果表明:汝官瓷、钧官瓷和刘家门窑青瓷的釉样品能够较好的区分开;但是3种瓷胎并不能很好的分开.
关键词:
汝官瓷
,
钧官瓷
,
刘家门窑青瓷
,
PIXE
,
因子分析
李鑫
,
陈晓科
,
彭发东
,
叶刚
,
李化
,
林福昌
,
张钦
绝缘材料
在原有水浴法的基础上,采用高频电压对XLPE电缆进行加速老化试验,对老化后的电缆切片样品进行光学显微镜观察,并对不同老化时间电缆样品中的水树进行了统计分析。结果表明:XLPE电缆在高频电压下老化后,在人为孔洞附近会产生水树缺陷,随着老化时间的增加,水树数目增多,水树平均长度逐渐增加,其中电缆老化250 h后的水树平均长度为857μm。
关键词:
电树
,
水树
,
高频电压
,
加速老化试验
,
生长率