欢迎登录材料期刊网

材料期刊网

高级检索

测量了含钕及不含钕两种钛合金5621S于600-800℃在氧气中氧化条件下氧化膜的生长应力和于800℃氧化不同时间后氧化膜的残余应力。通过氧化膜的生长应力、热应力、残余应力大小的比较,表明Ti5621S合金中添加钕能降低氧化膜的生长应力。含钕及不含钕两种钛合金氧化膜的生长应力和热应力同数量级。于冷却过程中若钛合金5621S氧化膜发生显著破裂,由于应力充分释放,其残余应力反较含钕的钛合金5621S氧化膜的低。

The growth stresses of oxide scales formed on Ti5621S and Nd doped Ti5621S alloys during the oxidation at 600—800℃ in oxygen and the residual stresses of the oxide scale formed at 800℃ at diffierent time have been measured using the one side oxidation ben

参考文献

[1]
[2]
[3]
[4]
[5]
[6]
上一张 下一张
上一张 下一张
计量
  • 下载量()
  • 访问量()
文章评分
  • 您的评分:
  • 1
    0%
  • 2
    0%
  • 3
    0%
  • 4
    0%
  • 5
    0%