采用薄膜X射线衍射(TF-XRD)方法研究了微波辐照后Al/iPP/Al夹心材料中iPP界面宏观残余应力,微观应力和点阵静畸变应力的变化,结果表明,微波辐照后iPP的宏观残余张应力减小.垂直于[300]晶面(β晶形)的晶粒尺寸增大, β晶形生长趋于完善,晶格微观畸变减小,微观应力减小,α晶形微观应力增大.β晶形的点阵静畸变应力和应力能量小于α晶形,这是引起α→β晶形转变的主要原因.
参考文献
| [1] | 盛世雄.X射线衍射技术[M].北京:冶金工业出版社,1986 |
| [2] | 张定铨;何家文.材料中残余应力的X射线衍射分析和作用[M].西安:西安交通大学出版社,1999 |
| [3] | Chung H;Jang W H;Wang J et al.[J].Journal of Polymer Science Part B:Polymer Physics,2001,39(07):796-810. |
| [4] | Chung H;Joe Y;Han H .[J].Journal of Applied Polymer Science,1999,74(14):3287-3298. |
| [5] | Ree M.;Park YH.;Kim SI.;Woo SH.;Cho CK.;Park CE.;Shin TJ. .Residual stress and optical properties of fully rod-like poly(p-phenylene pyromellitimide) in thin films: Effects of soft-bake and thermal imidization history[J].Journal of Polymer Science, Part B. Polymer Physics,1998(8):1261-1273. |
| [6] | Rajesh H S et al.[J].Macromolecules,2001,34:5902. |
| [7] | 张宏放;高焕;刘思杨.[J].高分子通报,1998(04):41. |
| [8] | 滕凤恩;王煜明;姜小龙.X射线结构分析与材料性能表征[M].北京:科学出版社,1997 |
上一张
下一张
上一张
下一张
计量
- 下载量()
- 访问量()
文章评分
- 您的评分：
-
10%
-
20%
-
30%
-
40%
-
50%