电容位移法精确测量磁性薄膜的磁致伸缩系数

功能材料, 2002, 33(3): 262-266.

1.国防科技大学航天与材料工程学院材料工程与应用化学系,湖南,长沙,410073

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A method for testing the magnetostriction coefficient of thin films accurately

介绍了一种精确测量磁性薄膜磁致伸缩系数方法--电容位移法,并自行研制组装了一套测量装置,通过误差分析、仪器的精确标定,对稀土-铁超磁致伸缩薄膜的磁致伸缩系数进行了测量,获得满意的结果.

[1]	Ludwig A.;Quandt E. .Giant magnetostrictive thin films for applications in microelectromechanical systems (invited)[J].Journal of Applied Physics,2000(9 Pt.2):4691-4695.
[2]	Klolholm E .[J].IEEE Transactions on Magnetics,1976,12:819.
[3]	Quandt E .[J].Journal of Applied Physics,1994,75(10):5653.

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