Bi2223带材临界电流沿长度方向的统计分布

低温物理学报 , 2009, 31(2): 123-126.

1.中国科学院电工研究所,北京,100080;中国科学院应用超导重点实验室,北京,100080;中国科学院研究生院,北京,100039

2.中国科学院电工研究所,北京,100080;中国科学院应用超导重点实验室,北京,100080

3.中国科学院电工研究所,北京,100080;中国科学院应用超导重点实验室,北京,100080

4.英国南安普敦大学工程学院,南安普敦,SO17 1BJ,英国

5.日本福冈工业大学生命环境与材料科学系,福冈,811-0295,日本

基金项目: 中国科学院创新团队国际合作伙伴计划资助的课题国家自然科学基金(50877076)

STATISTICAL DISTRIBUTION OF CRITICAL CURRENTS OF Bi2223 TAPES ALONG LENGTH DIRECTION

本文采用四引线法测量了Bi2223带材临界电流沿长度方向的分布,采用正态分布、对数正态分布、威布尔分布和最小极值分布对临界电流分布进行了拟合检验,确定了临界电流的最优统计分布模型.

[1]	王银顺,肖立业,林良真,戴少涛,舒立.银包套Bi2223多芯带材局部临界电流的变化对整个长样带材性能的影响[J].低温物理学报,2002(03):218-223.
[2]	苏彦江,王光钦,高庆,黄郁仲.球墨铸铁材料疲劳寿命的统计分布[J].机械,2001(05):48-50.

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