PTFE多孔膜和典型薄膜驻极体电荷贮存寿命的比较研究

高分子材料科学与工程, 2000, 16(6): 127-133.

PTFE多孔膜和典型薄膜驻极体电荷贮存寿命的比较研究

江键 ^1, , 夏钟福 ^2, , 崔黎丽 ^3, , 宋聚平 ^4,

1.第二军医大学数理教研室,上海,200433

2.同济大学玻耳固体物理研究所,上海,200092

3.第二军医大学数理教研室,上海,200433

4.同济大学玻耳固体物理研究所,上海,200092

基金项目: 国家自然科学基金(39770369)

关键词： PTFE多孔膜 , 驻极体 , 电荷贮存寿命

A COMPARATIVE STUDY OF CHARGE STORAGE LIFETIME AMONG POROUS PTFE, AND FOUR TYPICAL FILM ELECTRETS

利用等温表面电位衰减和开路热刺激放电电流谱的测量等方法,系统地研究了经单向拉伸而形成孔径为1～5μm,孔度为50%的聚四氟乙烯多孔膜的空间电荷贮存稳定性.并与在同等实验条件下的高密度PTFE、FEP、Aclar PCTFE和Kapton PI这4种典型驻极体材料的电荷贮存寿命进行了对比研究.结果显示,PTFE多孔膜较PTFE和FEP等驻极体材料有更优异的负电荷贮存稳定性,其常温负电荷的电荷贮存寿命可达103a以上.

参考文献

[1]	Sessler G M.Electret[M].Spinger Berlin New York,1987
[2]	Renke Von;Seggern H .[J].Journal of Applied Physics,1983,54(09):5262.
[3]	XIA Zhong-fu;JIANG Jian.CEDP[A].,1997:471.
[4]	XIA Zhong-fu .[J].IEEE Trans on E I,1990,25(03):611.
[5]	CAO Yang;XIA Zhong-fu.[A].,1996:40.
[6]	Hilczer B.Electrets[M].Amsterdam Oxford New York,1986

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