xFe-Al2O3颗粒薄膜的XRD分析和GMR效应

功能材料, 2004, 35(z1): 637-642.

1.新疆大学,物理系,新疆,乌鲁木齐,830046

2.新疆大学,物理系,新疆,乌鲁木齐,830046

3.新疆大学,物理系,新疆,乌鲁木齐,830046

XRD analysis and GMR effect of granular films xFe-Al2O3

对rf溅射法制备的xFe-Al2O3颗粒薄膜,应用X射线衍射仪(XRD)进行了测试和分析,推算了不同样品中Fe粒子的大小和元素面积比.并使用4探针外加磁场法对薄膜的巨磁阻效应进行了分析和讨论.当Fe面积比约为25%时,样品的磁电阻率在1.5T磁场下可达-2.3%.

[1]	董正超等.[J].物理学报,1999,48(07)
[2]	刘宜华等.[J].功能材料,2003,34(03)
[3]	滕凤恩.X射线结构分析与材料性能表征[M].北京:科学出版社,1997:12.
[4]	范雄.X射线金属学[M].北京:机械工业出版社

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