欢迎登录材料期刊网

材料期刊网

高级检索

近十多年来,铁电薄膜及集成铁电器件一直是材料科学工作者和电介质物理工作者关注和研究的热点之一.要使集成铁电器件得到更广泛的应用,还应针对铁电薄膜本身和铁电薄膜异质结构开展更深入的研究.本文针对铁电薄膜的疲劳、老化和电压漂移、电阻等特性退变,以及薄膜异质结构的表面和界面等问题,结合作者的研究工作,进行比较概括的分析,并提出一些解决问题的方法.

参考文献

[1] Scott J F .[J].Ferroelectrics Review,1998,1(01):1.
[2] 肖定全;殷之文.电介质物理学[M].北京:科学出版社
[3] 肖定全;干福熹.信息材料[M].天津:天津大学出版社,2000
[4] Warren W L;Dimos D;Waser R M .[J].MRS Bulletin,1996,40:1996.
[5] Warren W L;Dimos D;Tuttle B A et al.[J].Journal of Applied Physics,1995,77:6695.
[6] Scott J F;Paz de Araujo C A .[J].Science,1989,246:1400.
[7] Ramesh R;Gilchrist H;Sands T et al.[J].Applied Physics Letters,1993,63:3592.
[8] Al-Shareef H N;Dimos D;Boyle T J et al.[J].Applied Physics Letters,1996,68:690.
[9] Dimos D;Warren W L;Sinclair M B et al.[J].Journal of Applied Physics,1994,76:4305.
[10] Waser R;Baiatu T;Hardtl K H .[J].Journal of the American Ceramic Society,1990,73:1645.
[11] Xiao Dingquan;Meng Linli.[J].Ferroelectrics Letters
[12] Ramesh R;Gilchrist H;Sands T et al.[J].Applied Physics Letters,1993,63:3592.
上一张 下一张
上一张 下一张
计量
  • 下载量()
  • 访问量()
文章评分
  • 您的评分:
  • 1
    0%
  • 2
    0%
  • 3
    0%
  • 4
    0%
  • 5
    0%