片式化高压电容器的内电极结构及优化

功能材料, 2003, 34(4): 414-417.

片式化高压电容器的内电极结构及优化

王永力 ^1, , 李龙土 ^2, , 马振伟 ^3, , 桂治轮 ^4,

1.清华大学,材料科学与工程系,新型陶瓷与精细工艺国家重点实验室,北京,100084

2.清华大学,材料科学与工程系,新型陶瓷与精细工艺国家重点实验室,北京,100084

3.清华大学,材料科学与工程系,新型陶瓷与精细工艺国家重点实验室,北京,100084

4.清华大学,材料科学与工程系,新型陶瓷与精细工艺国家重点实验室,北京,100084

基金项目: 国家高技术研究发展计划(863计划)(2001AA320501)

关键词： MLCC , 高压电容器 , 内电极结构 , 有限元分析

The inner electrode structure and its optimization for high voltage chip capacitors

耐高压片式化多层陶瓷电容器(MLCC)要求其内电极具有特殊的结构以保证产品的可靠性.本文对比了普通MLCC和高压MLCC的内电极结构,用有限元方法对两种MLCC中若干典型位置的电场分布进行了分析,从电学角度对高压MLCC中内电极结构尺寸进行了优化,建立了高压MLCC内电极结构尺寸和所选用陶瓷介质材料的电学性能、MLCC的额定工作电压等参数之间的关系,这对中、高压MLCC的设计和制造具有指导意义.

参考文献

[1]	杨邦朝,冯哲圣,卢云.多层陶瓷电容器技术现状及未来发展趋势[J].电子元件与材料,2001(06):17-19.
[2]	薛泉林 .[J].电子元件与材料,1996,15(05):10.
[3]	Kuroda Y;Chikashige C .[P].US Patent: US-6134098,2000.
[4]	Pascal Le Gal .[P].France Patent: FR 2529709A1,2000.

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