嵌入式存储器测试一般是通过存储器BIST(Built-in Self Test,内建自测)进行的.生产过程中,人们不仅要知道存储器是合格的或是不合格的,而且要知道哪一个存储器不合格,故障位及其行/列.一种流行的诊断方法能帮助实现这个目的,这个方法称为出错-停止(SOE).基于特性测定和调试包(CDP)的BIST SOE诊断已在EDA软件和ATE(自动测试设备)平台间提供了标准界面.诊断算法和诊断相关的设计信息能与ATE的主机软件互动,并相应地传送到ATE硬件.这个方法已经缓解了运行的诊断对ATE专门平台的依赖性.案例研究显示,这一流程有助于用户界面的开发和现 有诊断方法性能的提高.
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