研究了用分子束外延(MBE)在GaAs衬底上生长GaSb薄膜的工艺.为了减小因晶格失配度较大所引起的位错密度,采用低温GaSb作为缓冲层,有效降低了外延层中的位错密度,提高了晶体质量.通过X射线双晶衍射仪和原子力显微镜测试分析,得到低温GaSb缓冲层的优化生长参数:厚度为20 nm,生长速率为1.43 μm/h,Ⅴ/Ⅲ束流比为2.0.并在此基础上研究了GaSb薄膜的发光特性:GaSb薄膜的光致发光光谱主要由束缚激子(BE4)和施主一受主对(D-A)辐射复合发光峰组成,在50 K时其发光峰强度最强,半峰宽最窄.
参考文献
[1] | 郭宝增.GaSb材料特性、制备及应用[J].半导体光电,1999(02):73-78. |
[2] | Smith D L;Mailhiot C.[J].JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,1987(62):2545. |
[3] | Young MH.;Hunter AT.;Miles RH.;Chow DH. .Recent advances in Ga1-xInxSb/InAs superlattice IR detector materials[J].Applied Surface Science: A Journal Devoted to the Properties of Interfaces in Relation to the Synthesis and Behaviour of Materials,1998(0):395-399. |
[4] | Grein C H;Young P M;Flattd M E et al.[J].Journal of Applied Physics,1995,78(12):7143. |
[5] | Rodriguez JB;Christol P;Cerutti L;Chevrier F;Joullie A .MBE growth and characterization of type-II InAs/GaSb superlattices for mid-infrared detection[J].Journal of Crystal Growth,2005(1/2):6-13. |
[6] | 刘士文;徐现刚;黄柏标 et al.[J].稀有金属,1994,18(01):45. |
[7] | 阎春辉,郑海群,范缇文,孔梅影,曾一平,黄运衡,朱世荣,孙殿照.分子束外延GaAs1-xSbx/GaAs及界面失配研究[J].半导体学报,1994(10):665. |
[8] | Watkins S P;Ares R;Soerensen G et al.[J].Journal of Crystal Growth,1997,170:788. |
[9] | Kouichi Akahane;Naokatsu Yamamoto;Shin-ichiro Gozu;Naoki Ohtani .Heteroepitaxial growth of GaSb on Si(001) substrates[J].Journal of Crystal Growth,2004(1/3):21-25. |
[10] | 李美成,邱永鑫,李洪明,赵连城.MOCVD外延Al2O3基AlGaN/GaN超晶格的结构和光学特性[J].稀有金属材料与工程,2005(09):1385-1388. |
上一张
下一张
上一张
下一张
计量
- 下载量()
- 访问量()
文章评分
- 您的评分:
-
10%
-
20%
-
30%
-
40%
-
50%