通过对不同陶瓷衬底材料上沉积多晶硅薄膜性能的研究,分析了陶瓷材料本身的性质和热力学参数、晶体学参数等性能对多晶硅薄膜沉积质量的影响,在SiC衬底上制备了择优定向生长晶粒直径达190μm的多晶硅薄膜.
参考文献
[1] | Beaucarne G.CVD-Growth of Crystalline Si on amorphous or Microcrystalline Substrates 14th European PV Solar Engergy Conference[J].Barcelona,1997:1007. |
[2] | 万之坚;黄勇;李海峰 等.[J].稀有金属材料与工程,2003,32(Z1):525. |
[3] | 李海峰 .[J].稀有金属材料与工程,2003,32(Z1):537. |
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