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采用提拉法生长得到LGS单晶,采用磷酸作腐蚀剂,对LGS晶体做了一系列腐蚀实验.实验结果表明:对于不同方向晶面,腐蚀液的配比和腐蚀时间等条件各不相同.根据腐蚀坑可以判定.其极轴是二次轴[1120]方向,并可具体确定极轴方向.关于腐蚀坑的分布可以判定,在现行条件下生长的晶体具有较高的质量.

参考文献

[1] Damjanovic D .Sci[J].Current Opinion in Solid State and Materials Science,1998,3:469-473.
[2] Shimamura K.;Kohno T.;Fukuda T.;Takeda H. .GROWTH AND CHARACTERIZATION OF LANTHANUM GALLIUM SILICATE LA3GA5SIO14 SINGLE CRYSTALS FOR PIEZOELECTRIC APPLICATIONS[J].Journal of Crystal Growth,1996(4):388-392.
[3] Chai B;Lefaucheur J L;Ji Y Y et al.Growth and Evaluation of Large Size LGS ( La3 Ga5 SiO14 ), LGN ( La3 Ga55 Nb05O14 ) and LGT(La3Ga55 Ta05 O14) Single Crystal[R].In 1998 IEEE Iht Freq Contr Symp,1998.
[4] Tarasova L S;Skorikov V M .415-418[J].Inorganic Materials,1996,32(04):415-418.
[5] Bohm J.;Hengst M.;Roewer R.;Schindler J.;Heimann RB. .Czochralski growth and characterization of piezoelectric single crystals with langasite structure: La3Ga5SiO14 (LGS), La3Ga5.5Nb0.5O14 (LGN), and La3Ga5.5Ta0.5O14 (LGT) Part I[J].Journal of Crystal Growth,1999(1/2):128-136.
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