研究了掺入MoO3时VO2薄膜电阻率的变化;建立了VO2薄膜电阻率突变数量级S随杂质含量变化的数学模型,进行了理论计算及与实测值的对比.结果表明,S随MoO3掺入量的增大而减小,采用该数学模型可以很好地预测S值的大小.
参考文献
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