尝试采用Imura等提出的单晶材料残余应力的测量方法来分析拉伸不同程度后粗晶铁硅合金的残余应力,先利用衍射仪测得试样衍射峰的位置后,再根据晶面指数和Imura方法计算出残余应力的大小.结果表明:该方法可以用于粗晶材料残余应力的测定;随着拉伸变形量的增大,各个衍射晶面的半高宽随之增大;当晶面位置参数精度为0.25°、衍射角精度为0.01°时,计算的应力状态基本符合试样拉伸后应力状态的理论值.
参考文献
| [1] | 陈艳华,须庆,姜传海,嵇宁.单晶材料X射线应力测定原理与方法[J].理化检验：物理分册,2012(03):144-147. |
| [2] | 鞠明,黄坚,吴毅雄.X射线衍射法测AM1镍基单晶合金的残余应力[J].机械工程材料,2013(03):99-102. |
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