为考察氧化膜状态对其电化学性能的影响,采用电化学方法研究了高纯铝阳极氧化膜在磷酸二氢钠缓冲溶液中的电化学性能.测试结果表明,高纯铝氧化膜的阴极极化过程分为3个阶段:1)电流密度变化较小而电位迅速负移,系克服氧化膜阻挡层电阻阶段;2)电流密度迅速增大而电位变化较小的析氢阶段;3)电流密度变化较小而电位迅速负移的氢离子扩散控制阶段.氧化膜具有单向导通性质,其阻抗大小由阻挡层决定,阻挡层愈厚,氧化膜的阻抗愈大.氧化电压与阻挡层的厚度成正比,在硫酸、草酸和磷酸溶液中阻挡层的成长率约为1 nm/V.
参考文献
| [1] | 李燕,孙小伟,王建,徐洮,刘维民,力虎林,王成伟.Ni、Co/AAO纳米有序阵列复合结构光吸收特性的比较研究[J].光学学报,2005(01):77-82. |
| [2] | 闫金良.多孔阳极氧化铝薄膜的结构和特性[J].半导体光电,2006(04):426-428,433. |
| [3] | Jagminiene A;Valincius G;Riaukaite A;Jagminas A .The influence of the alumina barrier-layer thickness on the subsequent AC growth of copper nanowires[J].Journal of Crystal Growth,2005(3/4):622-631. |
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