研究了二醋酸锆-氧化钇型壳(ZA-Y型壳)的回溶及其影响.使用重量法测定了型壳热水、蒸汽条件下的回溶率;使用电子万能试验机测定了型壳抗弯强度,并计算了裂纹指数随润湿时间的变化规律;利用光学显微镜(OM)观察了表面析出物的分布情况,用扫描电镜(SEM)结合能谱分析(EDS)研究了其形貌与成分,使用X射线荧光分析(XRF)方法测定了ZA-Y型壳的成分,并分析了表面析出物产生的原因.结果表明,型壳20 min内的回溶程度有限,最大吸水率为2.5％,回溶率为0.8％;强度下降26％,但裂纹指数下降至66％;表面析出物主要是由于偏钨酸铵的回溶,包含2种原因:泄压速度过快或后续干燥快而散热慢.
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