在分析了单晶锗片低温抛光工艺的基础上,进行了四种不同参数的单晶锗片低温抛光实验.分析了不同温度条件下,单晶锗片去除速率的变化原因,提出了基于醚类辅助抛光液的自锐型低温抛光工艺,为冰冻固结磨料抛光单晶锗片的研究开辟了新途径.结果表明:环境温度对冰冻固结磨料抛光盘表层融化速率影响显著,10℃时即会导致融化过快;抛光区域摩擦产生的热量小于环境温度-10℃时的对流换热,会导致冰盘表面二次凝固;环境温度-10℃时加入醚类辅助抛光液可实现冰盘在低温下的自锐性.
参考文献
[1] | 吕菲,赵权,刘春香,杨洪星,秦学敏,赵秀玲.Ge单晶片的酸性腐蚀特性分析[J].半导体技术,2008(12):1077-1079. |
[2] | 赵权 .锗抛光片抛光清洗技术研究[D].天津大学,2008. |
[3] | Dunwen Zuo;Yuli Sun;Yufei Zhao;Yongwei Zhu .Basic research on polishing with ice bonded nanoabrasive pad[J].Journal of Vacuum Science & Technology, B. Microelectronics and Nanometer Structures: Processing, Measurement and Phenomena,2009(3):1514-1519. |
[4] | 刘向阳,王立江,高春甫,吴校生,刘巍娜.光学材料无磨料低温抛光的试验研究[J].机械工程学报,2002(06):47-50. |
[5] | 刘俊铭,张晨辉,张朝辉,王岩,刘思思.蓖麻油聚氧乙烯醚水基润滑液摩擦学特性研究[J].摩擦学学报,2011(03):240-248. |
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