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研究Si的室温晶化生长对微电子应用技术是十分重要的.本文采用离子束外延技术制备了一系列的Si/Ge多层膜结构,对样品进行X射线和拉曼散射实验表征.研究表明:Ge可诱导膜中Si薄层的室温晶化,当Ge厚度略小于Si薄层厚时,获得最佳的Si室温晶化效果.

参考文献

[1] 阚端麟.硅材料科学与技术[M].杭州:浙江大学出版社,2000
[2] 沈天慧;汪师俊 .[J].半导体杂志,1986,12(06):59.
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