扫描隧道显微镜(SEM)和原子力显微镜(AFM)具有原子级的极高分辨率,可在纳米尺度上获得实空间的表面微观三维形貌,且可定量表征,因此可用来研究材料断裂与疲劳的微观机理.简要介绍STM和AFM在该领域的应用及所取得的若干进展.
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