温度对PTCDA结构形貌影响的Raman和AFM分析

功能材料, 2007, 38(4): 540-545.

1.兰州大学,物理科学与技术学院,甘肃,兰州,730000

2.兰州大学,物理科学与技术学院,甘肃,兰州,730000

3.兰州大学,物理科学与技术学院,甘肃,兰州,730000

4.兰州大学,物理科学与技术学院,甘肃,兰州,730000

5.兰州大学,物理科学与技术学院,甘肃,兰州,730000

6.兰州大学,物理科学与技术学院,甘肃,兰州,730000;湖南科技大学,物理学院,湖南,湘潭,411201

7.兰州大学,物理科学与技术学院,甘肃,兰州,730000

基金项目: 国家自然科学基金(60676033) 甘肃省自然科学基金(3ZS041-A25-001)

Raman spectra and AFM analysis for the temperature-dependent structure of PTCDA

通过真空蒸发将PTCDA淀积在p-Si(100)面.采用Raman光谱,AFM分别研究了衬底温度对于PTCDA分子结构和表面形貌的影响,进而完善了p-Si基PTCDA薄膜的生长机制.

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