将具有{001}取向的柱状晶Ni样品分别冷轧到0%, 10%, 30%和50%, 用电子背散射图(EBSP)技术测量晶粒取向, 跟踪晶粒取向在轧制过程中的演变, 得到晶粒取向演变的统计性结果. 采用Taylor模型模拟晶粒取向的演变, 并与实验结果比较. 结果表明, 晶粒取向的演变主要受原取向的影响, 只有一部分晶粒取向的演变符合Taylor模型.
参考文献
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