利用Rietveld全谱精修方法进行钢铁材料中的残余奥氏体的测定.该方法测定钢中残余奥氏体具有操作简单和结果重现性好的优点.
参考文献
[1] | 李树棠.金属X-射线衍射与分析技术[M].北京:冶金工业出版社,1980 |
[2] | 黄胜涛;陆金生.固体X-射线学[M].北京:高等教育出版社,1985 |
[3] | 滕凤恩;王煜明;姜小龙.X-射线结构分析与材料性能表征[M].北京:科学出版社,1997 |
[4] | 张信钰.金属和合金的织构[M].北京:科学出版社,1976 |
[5] | 马礼敦.近代x射线多晶体衍射-实验技术与数据分析[M].北京:化学工业出版社,2004 |
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