用扫描电镜直接观察变形材料中的位错结构──[001]取向铜单晶疲劳位错结构的研究

金属学报, 1997, 33(6): 561-565.

用扫描电镜直接观察变形材料中的位错结构──[001]取向铜单晶疲劳位错结构的研究

宫波 , 陈道伦 , 苏会和 , 王中光

中国科学院金属研究所材料疲劳与断裂国家重点实验室

沈阳

110015.110015

中国科学院金属研究所材料疲劳与断裂国家重点实验室

沈阳

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中国科学院金属研究所材料疲劳与断裂国家重点实验室

沈阳

中国科学院金属研究所材料疲劳与断裂国家重点实验室

沈阳

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基金项目: 国家自然科学基金!19392300-4

关键词：扫描电镜 , electron channeling contrast , copper single crystal , dislocation structure

DIRECT OBSERVATION OF DISLOCATION STRUCTURE IN DEFORMED MATERIALS BY SEM──Dislocation Structure in a Fatigued [001] Cu Single Crystal

Gong Bo , Chen Daolun , Su Huihe , Wang Zhongguang(State Key Laboratory for Fatigue and Fracture of Materials

Keywords： :scanning electron microscope , 电子通道衬度技术 , 铜单晶体 , 位错结构

用扫描电镜（SEM）的电了通道讨度（ECC）技术研究了[001]取向铜单晶中的疲劳位错结构结果表明，SEMECC技术不仅可以真实地、全面地显示疲劳位错组态，而且还揭示了表面出现的宏观形变带与位错结构的对应关系.

The dislocation configuration in a fatigued [001] copper single crystal has beenstudied by using a scanning electron microscope (SEM) with the electron channeling contrast(ECC) technique. It has been shown that this unique technique is efficient to reveal not onlythe fatigue dislocation structures in a large scale but also the relationship between the surfacedeformation bands and inside dislocation structures. It has been proven to be a powerful toolto connect macrostructures and microstructures in fatigued materials.

参考文献

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