SXR-CT技术应用研究烧结陶瓷三维微结构拓扑形貌

材料科学与工程学报, 2003, 21(3): 327-330. doi: 10.3969/j.issn.1673-2812.2003.03.003

SXR-CT技术应用研究烧结陶瓷三维微结构拓扑形貌

景晓宁 ^1, , 胡小方 ^2, , 赵建华 ^3, , 王亚鸥 ^4, , 田玉莲 ^5,

1.中国科学技术大学力学与机械工程系,安徽,合肥,230027;中国科学院材料力学行为和设计重点实验室,安徽,合肥,230027

2.中国科学技术大学力学与机械工程系,安徽,合肥,230027;中国科学院材料力学行为和设计重点实验室,安徽,合肥,230027

3.中国科学技术大学力学与机械工程系,安徽,合肥,230027;中国科学院材料力学行为和设计重点实验室,安徽,合肥,230027

4.Department of Mechanical Engineering,The Ohio State University,Columbus,Ohio

5.中国科学院高能物理研究所,北京,100039

基金项目: 国家自然科学基金(50072025) 北京市同步辐射装置重点项目

关键词：同步辐射硬X射线 , SXR-CT技术 , 烧结陶瓷 , 微结构拓扑形貌 , 密度分布

Application of Synchrotron Computed Microtomography to Study 3D Pore Topology and Density Distribution in Sintered Ceramics

借助同步辐射硬X射线高强度,强穿透,高分辨和天然准直性的特性,应用卷积反投影重建算法实现CT三维重建技术,简称SXR-CT(Synchrotron X-Ray Computed Tomography),研究了氧化物陶瓷烧结体残余孔隙的三维拓扑微结构.同时量化计算了样品的孔隙率和密度,较好地符合实验测量数据.

参考文献

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