本文应用傅立叶变换红外光谱仪研究了组分、热处理温度对溶胶-凝胶技术制备的SiO2、P2O5-SiO2、B2O3-SiO2以及P2O5-B2O3-SiO2系统薄膜结构的影响规律.随热处理温度增加,薄膜中硅氧、硼磷氧、磷硅氧和硼硅氧网络逐渐增强.但薄膜中P2O5和B2O3的含量存在一个饱和值,多余的P2O5和B2O3掺入量不能有效进入薄膜网络中.
参考文献
[1] | [J].Electronics Letters,1995,31:1833. |
[2] | M A Villegas;J M Fernandez Navarro .[J].Journal of Materials Science,1988,23:2464. |
[3] | S Prabakar;K J Rao;C N R Rao.[J].Journal of Materials Research,1991(06):592. |
[4] | S -P Szu;L C Klein;M Greenblatt .[J].Journal of Non-Crystalline Solids,1992,143:21. |
[5] | X P Fan;M Q Wang;G H Xiong .[J].Materials Science and Engineering,1993,B21:21. |
[6] | N Shibata;M Horigudhi;T Edahiro .[J].Journal of Non-Crystalline Solids,1981,45:115. |
[7] | J -C Schrotter;A Cardenas;M Smaihi;N.Hovnanian .[J].Journal of Sol-Gel Science and Technology,1995,4:195. |
上一张
下一张
上一张
下一张
计量
- 下载量()
- 访问量()
文章评分
- 您的评分:
-
10%
-
20%
-
30%
-
40%
-
50%